[发明专利]一种LED外延片及其形成方法有效
申请号: | 201210592504.8 | 申请日: | 2012-12-31 |
公开(公告)号: | CN103915534B | 公开(公告)日: | 2017-08-22 |
发明(设计)人: | 陈飞 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/04 | 分类号: | H01L33/04;H01L33/32;H01L33/14;H01L33/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 518118 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提出一种LED外延片及其形成方法,其中形成方法包括提供衬底,并在衬底之上形成缓冲层;在缓冲层之上形成第一掺杂类型的半导体材料层;在第一掺杂类型的半导体材料层之上形成量子阱结构;在量子阱结构之上形成电子阻挡层,其中,包括在量子阱结构上形成第一AlxGa1‑xN层,在形成第一AlxGa1‑xN层过程中,Al的组分x从第一组分值渐变至第二组分值,且第二组分值大于第一组分值,在第一AlxGa1‑xN层上形成第二AlxGa1‑xN层,在形成第二AlxGa1‑xN层过程中,Al的组分x为定值;以及在电子阻挡层之上形成第二掺杂类型的半导体材料层。本发明能够提高LED芯片的内量子效率,促使外延片发光效率的提升,更适合大功率外延片的需求。 | ||
搜索关键词: | 一种 led 外延 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种LED外延片的形成方法,其特征在于,包括以下步骤:提供衬底,并在所述衬底之上形成缓冲层;在所述缓冲层之上形成第一掺杂类型的半导体材料层;在所述第一掺杂类型的半导体材料层之上形成量子阱结构;在所述量子阱结构之上形成电子阻挡层,其中,包括:在所述量子阱结构上形成第一AlxGa1‑xN层,在形成第一AlxGa1‑xN层过程中,Al的组分x从第一组分值渐变至第二组分值,且所述第二组分值大于所述第一组分值,在所述第一AlxGa1‑xN层上形成第二AlxGa1‑xN层,在形成第二AlxGa1‑xN层过程中,Al的组分x为定值,并且所述Al的组分x等于所述第二组分值,其中,第二AlxGa1‑xN层Al的组分x为0.1‑0.25;以及在所述电子阻挡层之上形成第二掺杂类型的半导体材料层。
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