[发明专利]校准方法及其校准装置有效

专利信息
申请号: 201210572980.3 申请日: 2012-12-25
公开(公告)号: CN103901380B 公开(公告)日: 2018-07-13
发明(设计)人: 梁斌;王悦;王铁军;李维森 申请(专利权)人: 北京普源精电科技有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京卓岚智财知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11624 代理人: 任漱晨
地址: 102206 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种校准方法及其校准装置,校准方法包括以下步骤:查找校准点;对找到的校准点进行校准,所述的查找校准点的步骤包括:以一个固定频率间隔扫描测量信号,生成基准曲线;连接所述的基准曲线上的两点,生成校准直线;计算所述的基准曲线上的点到所述的校准直线的竖直距离与一个校准参数的大小关系;根据上述的大小关系,产生校准点。本发明所述的校准方法及其校准装置,不仅能够找到所有的超出指标点,保证仪器的测量指标,而且这种方法不用取过多的校准点,就能保证仪器指标,因此在保证同样的指标的前提下,会比现有技术使用较少的校准时间。
搜索关键词: 校准 校准点 基准曲线 校准装置 大小关系 查找 固定频率 技术使用 扫描测量 竖直距离 校准参数 保证 测量
【主权项】:
1.一种校准方法,该方法包括以下步骤:查找校准点;对找到的校准点进行校准,其特征在于,所述的查找校准点的步骤包括:以一个固定频率间隔扫描测量信号,生成基准曲线;连接所述的基准曲线上的两点,生成校准直线;计算所述的基准曲线上的点到所述的校准直线的竖直距离与一个校准参数的大小关系;根据上述的大小关系,产生校准点。
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