[发明专利]校准方法及其校准装置

说明书

本发明提供了一种校准方法及其校准装置，校准方法包括以下步骤：查找校准点；对找到的校准点进行校准，所述的查找校准点的步骤包括：以一个固定频率间隔扫描测量信号，生成基准曲线；连接所述的基准曲线上的两点，生成校准直线；计算所述的基准曲线上的点到所述的校准直线的竖直距离与一个校准参数的大小关系；根据上述的大小关系，产生校准点。本发明所述的校准方法及其校准装置，不仅能够找到所有的超出指标点，保证仪器的测量指标，而且这种方法不用取过多的校准点，就能保证仪器指标，因此在保证同样的指标的前提下，会比现有技术使用较少的校准时间。

技术领域

本发明涉及校准方法及其装置，特别涉及测量仪器的校准方法及其装置。

背景技术

因为很多测量仪器的信号都会受到频率的影响，所以在相同的硬件配置下，不同频率就会得到不同的测量结果，为了保证仪器的测量指标，就需要在频率上进行校准。

校准方法主要包括两个步骤，首先是查找校准点，然后是对找到的校准点进行校准，具体的校准方案根据校准项目而定。其中准确的查找校准点，对于校准的效果和速度都起到了关键的作用。现有技术中通常采用的查找校准点的方法是等间隔取点法，例如校准25M-6G频率范围内的AM调制功能，等间隔取点法就是从25M开始每隔50M取一个校准点，共取将近120个校准点，然后在这些校准点上分别进行校准。虽然对于这个频率范围，50M已经是较小的频率间隔了，但是在这50M的间隔内还是会存在超出指标的点，如图1所示，图中P1、P2是50M间隔的校准点，P3是超出指标的点。可见校准间隔取的无论有多小都有可能会遗漏掉超出指标的点，而如果没有对超出指标点进行校准，就不能很好的反应硬件特性，从而影响仪器的测量指标。

发明内容

为了解决现有技术中存在的问题，本发明提出了能够准确的找到校准点，不遗漏超出指标点的校准方法及其校准装置。

本发明提供了一种校准方法，该方法包括以下步骤：查找校准点；对找到的校准点进行校准，所述的查找校准点的步骤包括：以一个固定频率间隔扫描测量信号，生成基准曲线；连接所述的基准曲线上的两点，生成校准直线；计算所述的基准曲线上的点到所述的校准直线的竖直距离与一个校准参数的大小关系；根据上述的大小关系，产生校准点。

在本发明所述的校准方法中，所述的连接所述的基准曲线上的两点，生成校准直线，计算所述的基准曲线上的点到所述的校准直线的竖直距离与一个校准参数的大小关系的步骤还可以是指，连接所述的基准曲线的起点和终点，生 成第一校准直线；按照从所述基准曲线的起点到终点的顺序，依次计算所述的基准曲线上的点到所述的第一校准直线的竖直距离与所述的校准参数的大小关系。

在本发明所述的校准方法中，所述的根据所述的大小关系，产生校准点的步骤还可以包括，根据所述的大小关系，产生一个校准中间点；连接所述的校准中间点与所述基准曲线的终点，生成第二校准直线；按照从所述校准中间点到所述终点的顺序，依次计算所述的基准曲线上的点到所述的第二校准直线的竖直距离与所述的校准参数的大小关系。

在本发明所述的校准方法中，所述的根据所述的大小关系，产生校准点的步骤还可以是指，当所述基准曲线在所述的校准中间点与所述的终点之间的点到该校准中间点对应的校准直线的竖直距离大于所述的校准参数时，判定基准曲线上的该点是一个新的校准中间点。

在本发明所述的校准方法中，所述的根据所述的大小关系，产生校准点的步骤还可以是指，当所述基准曲线在所述的校准中间点与所述的终点之间的所有点到该校准中间点对应的校准直线的竖直距离都小于所述的校准参数时，判定该校准中间点是一个校准点。

在本发明所述的校准方法中，所述的根据所述的大小关系，产生校准点的步骤还可以是指，将新找到的校准点作为所述基准曲线的终点。