[发明专利]一种用于数控系统可靠性测试的试验装置有效

专利信息
申请号: 201210546426.8 申请日: 2012-12-15
公开(公告)号: CN103019155A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 彭翀;蓝力沄;刘强;高连生;夏继强;郇极 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G05B19/406 分类号: G05B19/406
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;顾炜
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明为一种用于数控系统可靠性测试的试验装置,该装置包括数据采集系统、数据存贮系统、数据访问与展示系统,开展对有限样本的数控系统(包括主轴电机和进给电机)无替换模式的定时截尾试验,进行长时间批量化运行试验过程监控,采集运行数据、故障数据和维护数据等。对于获取在同等运行环境条件下准确、可比的数控系统现场运行数据,本发明可达到超过2万小时及以上连续工作运行时间的要求,并将现场运行数据存储在数控系统可靠性管理数据库中用以对数控系统可靠性和性能进行分析。
搜索关键词: 一种 用于 数控系统 可靠性 测试 试验装置
【主权项】:
一种用于数控系统可靠性测试的试验装置,其特征在于:该装置包括数据采集系统、数据访问与展示系统和数据存贮系统,其中:所述的数据采集系统,针对被测的数控系统,对不同系列的数控系统都配有相应的摄像头用以监控其运行状态;同时针对每台被测系统配有数据采集装置,采集数据包括总电源、NC电源、系统PLC控制开关、电压测量和温湿度测量值;所述的数据存贮系统,满足可存储2万小时及以上的监控数据和采集数据的要求,并有冗余功能以保证采集数据不间断、可靠;所述的数据访问与展示系统,建立网络服务器,用户通过网络可采访系统,查询数控系统工作状态;包括监控状态和数据。
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