[发明专利]一种用于数控系统可靠性测试的试验装置有效
申请号: | 201210546426.8 | 申请日: | 2012-12-15 |
公开(公告)号: | CN103019155A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 彭翀;蓝力沄;刘强;高连生;夏继强;郇极 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G05B19/406 | 分类号: | G05B19/406 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明;顾炜 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 数控系统 可靠性 测试 试验装置 | ||
1.一种用于数控系统可靠性测试的试验装置,其特征在于:该装置包括数据采集系统、数据访问与展示系统和数据存贮系统,其中:
所述的数据采集系统,针对被测的数控系统,对不同系列的数控系统都配有相应的摄像头用以监控其运行状态;同时针对每台被测系统配有数据采集装置,采集数据包括总电源、NC电源、系统PLC控制开关、电压测量和温湿度测量值;
所述的数据存贮系统,满足可存储2万小时及以上的监控数据和采集数据的要求,并有冗余功能以保证采集数据不间断、可靠;
所述的数据访问与展示系统,建立网络服务器,用户通过网络可采访系统,查询数控系统工作状态;包括监控状态和数据。
2.根据权利要求1所述的一种用于数控系统可靠性测试的试验装置,其特征在于:该装置能够进行长时间批量化运行试验过程监控,采集运行数据、故障数据和维修数据要求,可连续无间断对数控系统进行试验过程的监控;可连续无间断采集数控系统运行状态数据、故障数据和维修数据。
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