[发明专利]一种与软测量建模相结合的过失误差侦破无效

专利信息
申请号: 201210531853.9 申请日: 2012-12-10
公开(公告)号: CN103034783A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 田慧欣 申请(专利权)人: 天津工业大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300160*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明是一种与软测量建模相结合的过失误差侦破,该方法针对软测量建模过程中建模数据过失误差侦破的特殊性,提出了一种适用于软测量数据的中心欧氏距离聚类算法(CED),这种新方法依据各数据点到数据中心的欧氏距离来判定过失误差,脱离了传统过失误差侦破方法依赖于机理模型的束缚,更好地适应软测量的特点。针对单纯使用聚类算法实现过失误差侦破的不足,将其与软测量建模过程相结合,将建模误差作为过失误差侦破过程的指导,使其克服了由于单纯基于数据而存在的缺陷,并且在完成过失误差侦破的同时建立了软测量模型。
搜索关键词: 一种 测量 建模 相结合 过失 误差 侦破
【主权项】:
一种与软测量建模相结合的过失误差侦破,其特征在于:对软测量建模过程中建模数据过失误差侦破的特殊性,提出了一种与软测量建模过程相结合,将建模误差作为过失误差侦破过程指导的一种新型过失误差侦破方法。
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