[发明专利]一种检测微量固体导电性的方法无效
申请号: | 201210517060.1 | 申请日: | 2012-12-06 |
公开(公告)号: | CN103852642A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 赵晋 | 申请(专利权)人: | 天津工业大学 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300160 天津市*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种检测微量固体导电性的方法,包括以下步骤:用两个金属钉状电极将检测粉末限制在一个高度为1到3厘米,直径介于3到5毫米之间的聚四氟乙烯承压管中;测量时给两端的金属钉状电极施加压力,排出粉末间的空气,将其挤压成圆柱形;通过测量工具可将内部样品圆柱体长度测出,并通过万用表测得整体电阻;计算电导率;测量完成后,从承压管两端拔出金属钉状电极,将样品从中用硬针状物顶出。本发明能够仅使用微量的样品在不需要添加任何液体助剂,不改变粉末任何性质的前提下利用非常简单的手法得到准确的导电性测量数据。 | ||
搜索关键词: | 一种 检测 微量 固体 导电性 方法 | ||
【主权项】:
一种检测微量固体导电性的方法,其特征在于,包括以下步骤:(a)用两个金属钉状电极(2)将检测粉末(6)限制在一个高度为1到3厘米,直径介于3到5毫米之间的聚四氟乙烯承压管(5)中;(b)测量时给两端的金属钉状电极(2)施加压力,排出粉末间的空气,将其挤压成圆柱形;(c)通过测量工具可将内部样品圆柱体长度测出,并通过万用表测得整体电阻,此值减去电极电阻值即为样品圆柱体的电阻值;(d)计算电导率,样品圆柱体电阻值除以其体积即可得出其体积电导率;(e)测量完成后,从承压管两端拔出金属钉状电极(2),将样品从中用硬针状物顶出。
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