[发明专利]一种检测微量固体导电性的方法无效
申请号: | 201210517060.1 | 申请日: | 2012-12-06 |
公开(公告)号: | CN103852642A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 赵晋 | 申请(专利权)人: | 天津工业大学 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300160 天津市*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 微量 固体 导电性 方法 | ||
1.一种检测微量固体导电性的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(a)用两个金属钉状电极(2)将检测粉末(6)限制在一个高度为1到3厘米,直径介于3到5毫米之间的聚四氟乙烯承压管(5)中;
(b)测量时给两端的金属钉状电极(2)施加压力,排出粉末间的空气,将其挤压成圆柱形;
(c)通过测量工具可将内部样品圆柱体长度测出,并通过万用表测得整体电阻,此值减去电极电阻值即为样品圆柱体的电阻值;
(d)计算电导率,样品圆柱体电阻值除以其体积即可得出其体积电导率;
(e)测量完成后,从承压管两端拔出金属钉状电极(2),将样品从中用硬针状物顶出。
2.根据权利要求1所述的一种检测微量固体导电性的方法,其特征在于:步骤(a)所述聚四氟乙烯承压管外加上不锈钢套筒(4)。
3.根据权利要求1所述的一种检测微量固体导电性的方法,其特征在于:步骤(a)所述金属钉状电极上均设置用以连接电阻测量设备的接线柱(1)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津工业大学,未经天津工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210517060.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。