[发明专利]一种制备用于多晶硅太阳能电池的三层减反射膜的方法无效
申请号: | 201210401579.3 | 申请日: | 2012-10-22 |
公开(公告)号: | CN102983211A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 张晨;张森林 | 申请(专利权)人: | 江苏晨电太阳能光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C23C16/34;C23C16/52 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 张惠忠 |
地址: | 223700 江苏省宿*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种制备用于多晶硅太阳能电池的三层减反射膜的方法,是对经过清洗制绒,扩散制备PN结,刻蚀去除晶体硅四周的PN结,清洗去除磷硅玻璃的处理步骤后的晶体硅镀减反射膜,其特征在于它包括以下步骤:(1)在扩散炉内用热氧化方法在晶体硅表面生长一层二氧化硅薄膜;(2)利用等离子体增强化学气相沉积方法在步骤(1)得到的二氧化硅薄膜上沉积一层氮化硅薄膜;(3)利用等离子体增强化学气相沉积方法在步骤(2)得到的氮化硅薄膜上沉积第二层氮化硅薄膜;(4)在上述氮化硅薄膜上印刷正反面电极、背场后进行烧结操作。:本发明得到了由二氧化硅和氮化硅组成的三层氮化硅薄膜,该减反射膜可以明显降低电池表面对光的反射,提高晶体硅太阳能的光电转换效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 用于 多晶 太阳能电池 三层 减反射膜 方法 | ||
【主权项】:
一种制备用于多晶硅太阳能电池的三层减反射膜的方法,是对经过清洗制绒,扩散制备PN结,刻蚀去除晶体硅四周的PN结,清洗去除磷硅玻璃的处理步骤后的晶体硅镀减反射膜,其特征在于它包括以下步骤:(1)在扩散炉内用热氧化方法在晶体硅表面生长一层二氧化硅薄膜;(2)利用等离子体增强化学气相沉积方法在步骤(1)得到的二氧化硅薄膜上沉积一层氮化硅薄膜;(3) 利用等离子体增强化学气相沉积方法在步骤(2)得到的氮化硅薄膜上沉积第二层氮化硅薄膜;(4)在上述氮化硅薄膜上印刷正反面电极、背场后进行烧结操作。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的