[发明专利]一种用于提高金属电极与晶体硅附着力的激光掺杂工艺无效
申请号: | 201210373442.1 | 申请日: | 2012-09-27 |
公开(公告)号: | CN102916077A | 公开(公告)日: | 2013-02-06 |
发明(设计)人: | 吴亚军;冯立学;梁会宁;胡元庆;李华恩 | 申请(专利权)人: | 奥特斯维能源(太仓)有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0224 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 215434 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了用于一种用于提高金属电极与晶体硅的附着力的激光掺杂工艺,包括硅片制绒、硼扩散、生长掩膜、磷扩散、激光掺杂、电镀;通过在激光掺杂工艺中采用具有均匀能量分布的线性聚焦光斑,结合对脉冲波形的控制,实现激光掺杂后既能维持硅表面的绒面形貌又能形成均匀的掺杂浓度分布,可以有效地提高电镀后金属电极与晶体硅的附着力,该方法可以提高电池的性能与稳定性,提高电池转换效率,满足工业化大规模生产。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 提高 金属电极 晶体 附着力 激光 掺杂 工艺 | ||
【主权项】:
一种用于提高金属电极与晶体硅附着力的激光掺杂工艺,硅片制绒,硼扩散,生长掩膜,磷扩散,激光掺杂,电镀,其特征在于: 所述的激光掺杂采用聚焦线性光斑光学系统及结合整形脉冲波完成,所述的聚焦线性光斑能量均匀分布,其短轴长轴之比为1:2‑1:50,短轴尺寸为10‑30um,长轴尺寸为20‑1500um。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的