[发明专利]一种用于提高金属电极与晶体硅附着力的激光掺杂工艺无效
申请号: | 201210373442.1 | 申请日: | 2012-09-27 |
公开(公告)号: | CN102916077A | 公开(公告)日: | 2013-02-06 |
发明(设计)人: | 吴亚军;冯立学;梁会宁;胡元庆;李华恩 | 申请(专利权)人: | 奥特斯维能源(太仓)有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0224 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 215434 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 提高 金属电极 晶体 附着力 激光 掺杂 工艺 | ||
1.一种用于提高金属电极与晶体硅附着力的激光掺杂工艺,硅片制绒,硼扩散,生长掩膜,磷扩散,激光掺杂,电镀,其特征在于: 所述的激光掺杂采用聚焦线性光斑光学系统及结合整形脉冲波完成,所述的聚焦线性光斑能量均匀分布,其短轴长轴之比为1:2-1:50,短轴尺寸为10-30um,长轴尺寸为20-1500um。
2.根据权利要求1所述的一种用于提高金属电极与晶体硅附着力的激光掺杂工艺,其特征在于:所述的整形脉冲波是可调制的,在2个或2个以上时间区间段具备不同的脉冲能量与峰值功率。
3.根据权利要求2所述的一种用于提高金属电极与晶体硅附着力的激光掺杂工艺,其特征在于:所述的2个时间区段为第一时间区段(8)、第二时间区段(9),所述的第一时间区段(8)时间为2-100ns,所述的第二时间区段(9)的时间为10-2000ns。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥特斯维能源(太仓)有限公司,未经奥特斯维能源(太仓)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210373442.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:果汁废水处理工艺
- 下一篇:氧化铁工艺水套用方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的