[发明专利]用于功能验证多管芯3D IC的系统和方法有效
| 申请号： | 201210314114.4 | 申请日： | 2012-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN103226179A | 公开（公告）日： | 2013-07-31 |
| 发明（设计）人： | 斯坦利·约翰;阿肖克·梅赫塔;桑迪·库马·戈埃尔;丁凯原 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人： | 章社杲;孙征 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 公开了一种用于功能验证多管芯3D IC的系统和方法。该系统和方法包括：用于独立测试管芯叠层内的每一个管芯的可重复利用的验证环境，而不需要同时运行叠层内的所有管芯。系统和方法包括将来自管芯验证测试的输入/输出(“IO”)轨迹从第一格式转换为第二格式，以提高性能。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 功能 验证 管芯 ic 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于验证布置在管芯叠层内的多个管芯中的管芯的功能的方法，所述方法包括以下步骤：(a)可操作地将所述多个管芯中的第一管芯连接至测试台和第一外围模型；(b)验证所述第一管芯的功能，从而产生第一格式的第一输入/输出(IO)轨迹；(c)使所述第一管芯与所述测试台断开；(d)将所述第一格式的第一IO轨迹转换为第二格式的第一IO轨迹；(e)可操作地将所述多个管芯中的第二管芯连接至所述测试台和第二外围模型；(f)将所述第二格式的第一IO轨迹应用于所述测试台；以及(g)验证所述第二管芯的功能。
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