[发明专利]用于功能验证多管芯3D IC的系统和方法

权利要求书

1.一种用于验证布置在管芯叠层内的多个管芯中的管芯的功能的方法，所述方法包括以下步骤：

(a)可操作地将所述多个管芯中的第一管芯连接至测试台和第一外围模型；

(b)验证所述第一管芯的功能，从而产生第一格式的第一输入/输出(IO)轨迹；

(c)使所述第一管芯与所述测试台断开；

(d)将所述第一格式的第一IO轨迹转换为第二格式的第一IO轨迹；

(e)可操作地将所述多个管芯中的第二管芯连接至所述测试台和第二外围模型；

(f)将所述第二格式的第一IO轨迹应用于所述测试台；以及

(g)验证所述第二管芯的功能。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述管芯叠层是3维叠层。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一格式是信号级格式。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述第一格式是改值转储(“VCD”)格式。

5.根据权利要求3所述的方法，其中，所述第二格式是交易级格式。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述第二格式是通用验证方法(“UVM”)格式。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，验证所述第二管芯的功能包括将用于所述第二管芯的测试输入应用于所述测试台。

8.根据权利要求1所述的方法，进一步包括以下步骤：

(h)通过验证所述第二管芯的功能产生所述第一格式的第二IO轨迹；

(i)使所述第二管芯与所述测试台断开；

(j)将所述第一格式的第二IO轨迹转换为所述第二格式的第二IO轨迹；

(k)可操作地将所述多个管芯中的第三管芯连接至所述测试台和第三外围模型；

(l)将所述第二格式的第二IO轨迹应用于所述测试台；以及

(m)验证所述第三管芯的功能。

9.一种用于测试布置在管芯叠层内的多个管芯中的每一个管芯的方法，其中，用于叠层内的每一个独立管芯的第一测试程序要求同时运行所述叠层内的每一个管芯，包括替换测试程序的改进包括以下步骤：

(a)使用测试台测试所述叠层内的第一管芯，而没有同时运行所述叠层内的其他管芯；以及

(b)使用所述测试台和至少部分通过测试所述叠层内的所有先前被测试管芯所产生的输入/输出(“IO”)轨迹来测试所述叠层内的第二管芯，在执行所述第二管芯的测试的同时没有在运行所述叠层内的其他管芯。

10.一种用于验证布置在管芯叠层内的多个管芯中的管芯的功能的系统，所述系统包括：

所述多个管芯中的第一管芯，可操作地连接至测试台且可操作地连接至第一外围模型，从而验证所述第一管芯的功能并产生第一格式的第一输入/输出(“IO”)轨迹；

存储设备，用于存储所述第一格式的第一IO轨迹；

转换单元，用于将所述第一格式的第一IO轨迹转换为第二格式的第一IO轨迹；以及

所述多个管芯中的第二管芯，代替所述第一管芯可操作地连接至所述测试台且可操作地连接至第二外围模型，其中，将所述第二格式的第一IO轨迹应用于所述测试台，从而验证所述第二管芯的功能。