[发明专利]用于测量透明材料的光学性质的仪器和方法在审
| 申请号： | 201210309367.2 | 申请日： | 2012-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN103063409A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 塞韦林·温默;彼得·施瓦茨 | 申请（专利权）人： | 毕克-加特纳有限责任公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人： | 张颖玲;孟桂超 |
| 地址： | 德国盖*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种用于测量透明材料的光学性质的仪器，包括：第一照明装置(2)，用于用预设的辐射沿预设的照明路径(P)照亮待研究的材料(10)；辐射记录空间(4)，用于记录穿过所述待研究的材料(10)传递的辐射，其中所述辐射记录空间(4)设置为使得由所述第一照明装置(2)发射的辐射首先照射在所述材料(2)上然后至少一次照射在所述辐射记录空间(4)的内壁(42)上；辐射探测器装置(12)，用于记录基本仅从所述辐射记录空间(4)的内壁(42)反射和/或散射的辐射；以及第二照明装置(14)，用于照亮所述辐射记录空间(4)的内壁(42)。根据本发明，第二照明装置(14)适用于发射经调制的辐射。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 透明 材料 光学 性质 仪器 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量透明材料的光学性质的仪器，包括：第一照明装置(2)，用于用预设的辐射沿预设的照明路径(P)照亮待研究的材料(10)；辐射记录空间(4)，用于记录穿过所述待研究的材料(10)传递的辐射，其中所述辐射记录空间(4)设置为使得由所述第一照明装置(2)发射的辐射首先照射在所述材料(2)上然后至少一次照射在所述辐射记录空间(4)的内壁(42)上；辐射探测器装置(12)，用于记录基本仅从所述辐射记录空间(4)的内壁(42)处被反射和/或散射的辐射；以及第二照明装置(14)，用于照亮所述辐射记录空间(4)的内壁(42)，其特征在于，所述第二照明装置(14)适用于发射经调制的辐射。
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