[发明专利]高频电路及高频模块有效
申请号: | 201210274449.8 | 申请日: | 2012-08-03 |
公开(公告)号: | CN102916660A | 公开(公告)日: | 2013-02-06 |
发明(设计)人: | 门井凉;林范雄;清水智;山本昭夫 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | H03F3/19 | 分类号: | H03F3/19 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 金晓 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供了一种高频电路和高频模块,其中通过数字控制补偿改善了补偿操作的准确性。放大器单元的放大器元件的放大增益被偏置控制单元的偏置电流控制。校准电路的工艺监测电路包括第一和第二元件特性检测器和电压比较器。检测器将复制元件的电流转换为第一和第二检测电压。电压比较器比较第一和第二检测电压并且提供比较输出信号到搜索控制单元。响应于比较器的比较输出信号和时钟产生单元的时钟信号,控制器根据预定搜索算法产生多位数字补偿值,第二检测器的偏置控制单元被反馈控制。 | ||
搜索关键词: | 高频 电路 模块 | ||
【主权项】:
一种高频电路,包括高频功率放大器电路,包括放大器单元和偏置控制单元;工艺监测电路;搜索控制单元;和时钟产生单元,其中配置高频功率放大器电路的放大器单元的放大晶体管的放大增益被偏置控制单元设定的放大晶体管的偏置电流控制,其中工艺监测电路包括第一元件特性检测器、第二元件特性检测器和电压比较器,其中第一元件特性检测器的第一复制晶体管、第二元件特性检测器的第二复制晶体管和放大器单元的放大晶体管由相同的半导体制造工艺形成,其中第一元件特性检测器将第一复制晶体管的第一输出电流转换成第一检测电压,其中第二元件特性检测器将第二复制晶体管的第二输出电流转换成第二检测电压,其中电压比较器比较第一检测电压和第二检测电压,并提供比较输出信号给搜索控制单元,其中,响应于时钟产生单元产生的时钟信号和电压比较器的比较输出信号,搜索控制单元根据预定搜索算法产生用于最小化第一检测电压和第二检测电压之间的差的多位数字误差补偿值,并且其中响应于根据预定搜索算法最终存储在搜索控制单元中的数字误差补偿值,第二元件特性检测器和偏置控制单元被反馈控制。
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