[发明专利]一种基于互电容触摸屏的触摸坐标检测方法有效

专利信息
申请号: 201210212937.6 申请日: 2012-06-26
公开(公告)号: CN103513835A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 邵伟;刘强;苏一菲;蒋义 申请(专利权)人: 彩优微电子(昆山)有限公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于互电容触摸屏的触摸坐标检测方法,包括第一扫描步骤、第二扫描步骤、坐标计算步骤。第一扫描步骤进行逐行逐列扫描,记录触摸屏上每个子区域的触摸强度和坐标,将触摸强度大于预先设定的基准值的子区域标记为触摸感应点。第二扫描步骤首先将任一个触摸感应点标记为被记录点,然后逐个扫描周围临近八点,如果扫描出周围相邻八点有触摸感应点,则记录这些点的坐标,随后将这些被记录的点标记为被记录点,并重复上述步骤;如果没有检测出触摸感应点,则第二扫描步骤结束。坐标计算步骤使用第一、第二扫描步骤中的所有被记录点的触摸强度和坐标,计算得出触摸点的中心位置的坐标。
搜索关键词: 一种 基于 电容 触摸屏 触摸 坐标 检测 方法
【主权项】:
一种基于互电容触摸屏的触摸坐标检测方法;所述互电容触摸屏(4)包括互相交叉的行电极串和列电极串,根据所述行电极串和列电极串的交叉位置,将所述互电容触摸屏(4)的表面分为大小相等的子区域,这些子区域呈矩阵排列;所述互电容触摸屏(4)上还有可以储存并读出数据的寄存器数组(8);所述互电容触摸屏的触摸坐标检测方法包括第一扫描步骤(5)、第二扫描步骤(6)、坐标计算步骤(7);所述第一扫描步骤(5)为:依次向每一行电极串发射检测信号,逐个检测与该行电极串相交的每一列电极串上的列电极的交叉位置附近的子区域的触摸强度c,判断是否有触摸,一个行电极串检测完毕后,接着检测下一行电极串,直到检测完触摸屏上的每个子区域,并记录每个子区域的坐标xy和触摸强度c的对应关系;所述坐标xy由该行电极串与交叉的列电极串在互电容触摸屏上的位置y和x所定义,所述触摸强度c为检测出该点由于触摸引起的互电容的变化值;检测完毕后,将触摸强度高于预先设定的基准值的子区域标记为触摸感应点(1),其余子区域标记为无触摸点(0);所述第二扫描步骤(6)包括起始步骤(61),循环步骤(62);所述起始步骤(61)从任意一个触摸感应点(1)开始,将这个触摸感应点标记为被记录点(2),将这个被记录点(2)的坐标记录进所述寄存器数组(8);所述循环步骤(62)为随后逐个检测以被记录点(2)的坐标为中心的井字方格的另外八个相邻点,即被记录点(2)的上、下、左、右、左上、左下、右上、右下八个点;如果检测过程中发现周围相邻八点中的部分点为触摸感应点(1)时,即这些点的触摸强度高于预先设定的基准值时,则将这些触摸感应点(1)标记为被记录点(2),将这些被记录点(2)的坐标记录进所述寄存器数组(8),继续循环步骤(62);如果检测过程中发现上一次循环中检测出的所有被记录点(2)的周围相邻八点中都没有触摸感应点(1),只有无触摸点(0)和被记录点(2),则循环步骤(62)结束;所述第二扫描步骤(6)结束;所述坐标计算步骤(7)为:利用第二扫描步骤(6)中储存在寄存器数组(8)中的所有被记录点(2)的坐标与所述第一扫描步骤(5)中得出的坐标xy与触摸强度c的对应关系,得出所有被记录点(2)的坐标与对应的触摸强度,通过计 算得出触摸中心点的坐标。
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