[发明专利]一种基于互电容触摸屏的触摸坐标检测方法有效
申请号: | 201210212937.6 | 申请日: | 2012-06-26 |
公开(公告)号: | CN103513835A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 邵伟;刘强;苏一菲;蒋义 | 申请(专利权)人: | 彩优微电子(昆山)有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 电容 触摸屏 触摸 坐标 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种基于互电容触摸屏的触摸坐标检测方法。
背景技术
近年来,电容式触摸屏在各种电子设备,特别是手持式数码设备,例如手机,掌上电脑,平板电脑等方面得到广泛使用。其中互电容式触摸屏由于具备多点触控的能力,代表了未来电容式触摸屏发展的趋势。
一个互电容触摸屏上包括一个N行M列的电极阵列,每一行的N个行电极通过导线连接在一起形成行电极串,每一列的M个列电极也通过导线连接在一起形成列电极串,电极行列上的每个电极都与附近的四个电极存在有感应电容,当手指或者导体触碰电极附近时,这些感应电容会变化,通过在一定时间内检测N XM个电极与附近的电极的感应电容变化量来检测人的手指触碰的位置。
互电容触摸屏工作时,触摸屏外的检测电路依次向每一个行电极串发送检测信号,并通过每一列电极串接收传回的信号,当其中一个行电极串正在被检测时,通过检测该行电极串上的每一个行电极与临近的列电极的感应电容的变化来判断是否有触摸以及触摸的位置,当感应电容的变化值大于预先设定的基准值时,则认为该点有触摸。
为了检测坐标的精确和软件应用的需要,这些电极通常设计的面积较小,例如某款手机用触摸屏的电极面积只有0.125平方厘米,而人的手指大小不一,当手指按上触摸屏时,常常会发生不止一个电极的感应电容的变化值大于预先设定的基准值的情况,即设计者需要解决当触摸引起互相紧邻的多个电极的感应电容的变化值大于预先设定的基准值时,怎样得出触摸的中心点的坐标的问题。
发明内容
本发明提供一种基于互电容触摸屏的触摸坐标检测方法,包括第一扫描步骤、第二扫描步骤和坐标计算步骤。
第一扫描步骤进行逐行逐列扫描,记录触摸屏上每个子区域的触摸强度和坐标,将触摸强度大于预先设定的基准值的子区域标记为触摸感应点1。第二扫描步骤首先将任一个触摸感应点1作为起始扫描点标记为被记录点2,随后扫描被记录点2周围相邻八点,如果扫描出周围相邻八点有触摸感应点1,则记录这些点的坐标,随后将这些被记录的点标记为被记录点2,并重复上述步骤;如果没有检测出触摸感应点1,则第二扫描步骤结束。坐标计算步骤使用第一、第二扫描步骤中的所有被记录点2的触摸强度和坐标,计算得出触摸点的中心位置的坐标。
第二扫描步骤中,逐个扫描周围相邻八点可以采用围绕中心点顺时针或者逆时针方向扫描。计算触摸点的中心位置的坐标可以采用加权平均算法。
本发明提供的一种基于互电容触摸屏的触摸坐标检测方法,能够在当互电容触摸屏上互相临近的多个坐标的触摸强度都大于预先设定的基准值时,准确的得出触摸中心点的坐标位置。
附图说明
图1示出本发明所述互电容触摸屏被电极划分成多个子区域以及子区域的扫描坐标和触摸强度对应关系示意图;
图2示出本发明所述的基于互电容触摸屏的触摸坐标检测办法的步骤框图;
图3示出本发明所述的基于互电容触摸屏的触摸坐标检测办法的第二扫描步骤的一个实施例的示意图;
图4示出本发明所述的基于互电容触摸屏的触摸坐标检测办法的第二扫描步骤中,对被记录点周围相邻八点逐个检测时的顺时针和逆时针顺序检测示意图。
具体实施方式
下面结合附图,对本发明的具体实施方式作进一步的详细说明。
一个互电容触摸屏上通常有互相交叉的行电极串和列电极串,根据这些行电极串和列电极串的交叉位置,将所述互电容触摸屏(4)的表面分为许多大小相等的子区域,这些子区域如图1所示呈矩阵排列。这些子区域的坐标xy由互相交叉的行电极串在Y方向的坐标y和列电极串在X方向的坐标x决定。互电容触摸屏(4)上还有可以储存并读出数据的寄存器数组(3)。
本发明所述的基于互电容触摸屏的触摸坐标检测方法,包括第一扫描步骤5、第二扫描步骤6和坐标计算步骤7。这些步骤的顺序框图如图2所示,其中第二扫描步骤6包括起始步骤61和循环步骤62。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于彩优微电子(昆山)有限公司,未经彩优微电子(昆山)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210212937.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。