[发明专利]真空处理装置及控制制程颗粒沉积路径的方法有效

专利信息
申请号: 201210199548.4 申请日: 2012-06-15
公开(公告)号: CN103510064A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 李苍;刘忠笃 申请(专利权)人: 中微半导体设备(上海)有限公司
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 吴世华;冯志云
地址: 201201 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种真空处理装置,用于对放置在其中的基片通过金属有机化学气相沉积反应进行加工处理,包括:基座、反应腔室、喷淋头,基座和喷淋头分别位于反应腔室内的下部和上部,喷淋头用于向反应腔室供给金属有机化学气相沉积反应所用的制程气体,基片放置在基座上,该装置还包括一个超声波发生单元,用于在反应腔室中产生超声波,使得制程气体的制程颗粒向下运动,与基片进行反应。采用这种装置不再需要专门的反应腔室清洗工艺,提高了生产效率、节省了开销。
搜索关键词: 真空 处理 装置 控制 颗粒 沉积 路径 方法
【主权项】:
一种真空处理装置,用于对放置在其中的基片(15)通过金属有机化学气相沉积反应进行加工处理,包括:基座(10)、反应腔室(11)、喷淋头(12),所述基座(10)和喷淋头(12)分别位于反应腔室(11)内的下部和上部,所述喷淋头(12)用于向反应腔室(11)供给金属有机化学气相沉积反应所用的制程气体,所述基片(15)放置在基座(10)上,其特征在于,所述真空处理装置还包括一个超声波发生单元,其在所述反应腔室(11)中产生超声波,使得所述反应腔室(11)内的制程颗粒(14)向下运动并与基片(15)进行制程反应。
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