[发明专利]接触检测装置、记录显示装置和接触检测方法在审
申请号: | 201210188880.0 | 申请日: | 2012-06-08 |
公开(公告)号: | CN103092392A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 一星彰;石井努;竹内孝行;佐佐木茂彦;佐藤政宽;友田恭太郎;内藤孝雄;三井实 | 申请(专利权)人: | 富士施乐株式会社 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 陈源;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明公开了接触检测装置、记录显示装置和接触检测方法。该接触检测装置包括多个检测元件、生成单元和判定单元。多个检测元件在预定接触面上的二维构造中彼此相关,并各自检测物体与接触面的接触。生成单元根据多个检测单元的检测结果生成特征信息,该特征信息代表基于物体与接触面的接触所绘制的轨迹的特征。判定单元判定生成单元所生成的特征信息是否对应于预先登记的特定接触特征信息,该特定接触特征信息代表基于物体与接触面的特定接触所绘制的轨迹的特征。 | ||
搜索关键词: | 接触 检测 装置 记录 显示装置 方法 | ||
【主权项】:
一种接触检测装置,包括:多个检测元件,其在预定接触面上的二维构造中彼此相关,并各自检测物体与所述接触面的接触;生成单元,其基于所述多个检测元件的检测结果生成特征信息,所述特征信息代表基于物体与所述接触面的接触所绘制轨迹的特征;和判定单元,其判定所述生成单元所生成的特征信息是否对应于预先登记的特定接触特征信息,所述特定接触特征信息代表基于物体与所述接触面的特定接触所绘制的轨迹的特征。
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