[发明专利]接触检测装置、记录显示装置和接触检测方法在审
申请号: | 201210188880.0 | 申请日: | 2012-06-08 |
公开(公告)号: | CN103092392A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 一星彰;石井努;竹内孝行;佐佐木茂彦;佐藤政宽;友田恭太郎;内藤孝雄;三井实 | 申请(专利权)人: | 富士施乐株式会社 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 陈源;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接触 检测 装置 记录 显示装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及接触检测装置、记录显示装置和接触检测方法。
背景技术
日本未审查专利申请公开第8-110830号公开了一种坐标输入装置的数据处理方法,其中在按压输入表面的预定位置时,该坐标输入装置顺序获取被按压位置所对应的坐标数据项并仅将所获取坐标数据项中的有效数据进行输出。该数据处理方法的特征在于进行初始设定处理和输入数据处理。初始设定处理以均匀定时获取预定条件下通过手写输入所得到的坐标数据项,通过顺序使用三个坐标数据项来计算第二和第三坐标数据项之间的移动距离、以及第一和第二坐标数据项之间的直线轴与第二和第三坐标数据项之间的直线轴所形成的角的角度变化量,分别累计计算出的移动距离的频率和计算出的角的角度变化量的频率,并参照因此所得到的累记频率设置一预定的角度变化基准值及其对应的移动距离作为确定有效数据的阈值。在正常的输入操作中,输入数据处理通过使用书写后即刻获得的第一坐标数据项和紧随其后输入的两个坐标数据项来计算第一和第二坐标数据项之前的移动距离以及第一和第二坐标数据项之间的直线轴与第二和第三坐标数据项之间的直线轴所形成的角的角度变化量,将计算结果与初始设定处理设定的用于确定有效数据的阈值进行比较,并且如果至少一项计算结果等于或者小于相应的阈值,则将书写后即刻获得的该第一坐标数据项为有效数据进行输出。
日本未审查专利申请公开第2011-70658号公开了一种显示装置,该显示装置包括在多个像素中包含光敏元件的触摸板和图像处理单元。光敏元件在触摸板和目标物体之间产生接触图像。图像处理单元通过接触图像的颜色信息来计算接触部分的面积,并根据面积判定对触摸板是否有输入。
日本未审查专利申请公开第9-44293号公开了一种包括手写笔输入装置的电子设备,该电子设备包括与显示装置集成的书写板并允许用笔对手写输入框进行手写输入。该电子设备的特征在于包括:手写输入框显示器,其显示手写输入框;输入坐标识别单元,其识别输入至书写板的坐标;以及输入无效区域设定单元,其设置输入无效区域,该输入无效区域针对各手写输入框而设,用于使持笔的手与书写板的接触而导致的不正确输入无效,并取消输入至输入无效区域的坐标数据。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种接触检测装置,一种记录显示装置和一种接触检测方法,以高准确地判定正确接触和误接触。
为了实现上述目的,根据本发明的第一方面,提供了一种接触检测装置,其被配置为包括多个检测元件、生成单元和判定单元。多个检测元件在预定接触面上的二维构造中彼此相关,并各自检测物体与接触面的接触。生成单元根据多个检测元件的检测结果生成特征信息,该特征信息代表基于物体与接触面的接触所绘制轨迹的特征。判定单元判定生成单元所生成的特征信息是否对应于预先登记的特定接触特征信息,其代表基于物体与接触面的特定接触所绘制轨迹的特征。
根据本发明的第二方面,在根据第一方面所述的接触检测装置中,所述特定接触对应于预先确定为与接触面正确接触的正确接触或者为预先确定为与接触面非正确接触的误接触。
根据本发明的第三方面,根据第一或第二方面所述的接触检测装置还包括关联单元,其关联用以识别轨迹的识别信息和轨迹,对于识别信息所识别的各轨迹,判定单元判定生成单元所生成的特征信息是否对应于特定接触特征信息。
根据本发明的第四方面,根据第一或第二方面所述的接触检测装置被配置为还包括识别单元,其根据判定单元所做出的判定结果识别表示与接触面的特定接触的轨迹。
根据本发明的第五方面,根据第三方面所述的接触检测装置被配置为还包括识别单元,其根据判定单元所做出的判定结果识别表示与接触面的特定接触的轨迹。
根据本发明的第六方面,在根据第四方面所述的接触检测装置中,根据判定单元在预定期间内做出的生成单元所生成的特征信息对应于特定接触特征信息的判定次数,识别单元识别出代表与接触面的特定接触的轨迹。
根据本发明的第七方面,在根据第五方面所述的接触检测装置中,根据判定单元在预定期间内做出的生成单元所生成的特征信息对应于特定接触特征信息的判定次数,识别单元识别表示与接触面的特定接触的轨迹。
根据本发明的第八方面,在根据第六方面所述的接触检测装置中,如果判定单元在预定期间内做出的生成单元所生成的特征信息对应于特定接触特征信息的判定次数大于判定单元在所述预定期间内做出的生成单元所生成的特征信息不对应于特定接触特征信息的判定次数,则识别单元将在此预定期间内在接触面上所绘制的轨迹识别为代表特定接触的轨迹。
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