[发明专利]一种基于准光学谐振腔的介质材料复介电常数测试装置有效

专利信息
申请号: 201210181403.1 申请日: 2012-06-04
公开(公告)号: CN102707155A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 李恩;郭高凤;何凤梅;陈聪慧;戈弋;高源慈;聂瑞星 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种基于准光学谐振腔的介质材料复介电常数测试装置,属于介质材料测试技术领域。包括准光学谐振腔、同轴线耦合圆环和矢量网络分析仪;准光学谐振腔为对称双凹腔或平凹腔;同轴线耦合圆环为连接同轴线内导体和外导体的圆环状金属导体。测试信号经同轴线、耦合输入孔和第一同轴线耦合圆环进入谐振腔;谐振腔所产生的输出信号经第二同轴线耦合圆环输出,穿过耦合输出孔,最后经另一段同轴线传回矢量网络分析仪。本发明在准光学谐振腔的直接耦合孔基础上,增加了同轴线耦合圆环,通过调节同轴线耦合圆环的尺寸大小实现了信号耦合输入能量和耦合输出能量大小的调节,从而实现了耦合能量的可调性。同时,本发明具有结构简单、操作方面的特点。
搜索关键词: 一种 基于 光学 谐振腔 介质 材料 介电常数 测试 装置
【主权项】:
一种基于准光学谐振腔的介质材料复介电常数测试装置,包括准光学谐振腔(1)、同轴线耦合圆环(2)和矢量网络分析仪(3);所述准光学谐振腔(1)为由两个凹面镜正对放置而成的对称双凹腔或由一个平面镜和一个凹面镜正对放置而成的平凹腔;所述同轴线耦合圆环(2)为连接同轴线内导体和外导体的圆环状金属导体;对于准光学谐振腔(1)为对称双凹腔的介质材料复介电常数测试装置而言,矢量网络分析仪(3)产生的测试信号通过一段同轴线传输,穿过对称双凹腔中位于第一凹面镜(11)中心的输入能量耦合孔(111)后经第一同轴线耦合圆环(21)耦合入对称双凹腔;对称双凹腔所产生的输出信号经第二同轴线耦合圆环(22)耦合输出,穿过对称双凹腔中位于第二凹面镜(12)中心的输出能量耦合孔(121)后经另一段同轴线传回至矢量网络分析仪(3);对于准光学谐振腔(1)为平凹腔的介质材料复介电常数测试装置而言,矢量网络分析仪(3)产生的测试信号通过一段同轴线传输,穿过平凹腔中位于凹面镜(11)中心附近的输入能量耦合孔(111)后经第一同轴线耦合圆环(21)耦合入平凹腔;平凹腔所产生的输出信号经第二同轴线耦合圆环(22)耦合输出,穿过平凹腔中位于凹面镜(11)中心附近的输出能量耦合孔(121)后经另一段同轴线传回至矢量网络分析仪(3)。
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