[发明专利]一种基于准光学谐振腔的介质材料复介电常数测试装置有效
申请号: | 201210181403.1 | 申请日: | 2012-06-04 |
公开(公告)号: | CN102707155A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 李恩;郭高凤;何凤梅;陈聪慧;戈弋;高源慈;聂瑞星 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 光学 谐振腔 介质 材料 介电常数 测试 装置 | ||
1.一种基于准光学谐振腔的介质材料复介电常数测试装置,包括准光学谐振腔(1)、同轴线耦合圆环(2)和矢量网络分析仪(3);所述准光学谐振腔(1)为由两个凹面镜正对放置而成的对称双凹腔或由一个平面镜和一个凹面镜正对放置而成的平凹腔;所述同轴线耦合圆环(2)为连接同轴线内导体和外导体的圆环状金属导体;
对于准光学谐振腔(1)为对称双凹腔的介质材料复介电常数测试装置而言,矢量网络分析仪(3)产生的测试信号通过一段同轴线传输,穿过对称双凹腔中位于第一凹面镜(11)中心的输入能量耦合孔(111)后经第一同轴线耦合圆环(21)耦合入对称双凹腔;对称双凹腔所产生的输出信号经第二同轴线耦合圆环(22)耦合输出,穿过对称双凹腔中位于第二凹面镜(12)中心的输出能量耦合孔(121)后经另一段同轴线传回至矢量网络分析仪(3);对于准光学谐振腔(1)为平凹腔的介质材料复介电常数测试装置而言,矢量网络分析仪(3)产生的测试信号通过一段同轴线传输,穿过平凹腔中位于凹面镜(11)中心附近的输入能量耦合孔(111)后经第一同轴线耦合圆环(21)耦合入平凹腔;平凹腔所产生的输出信号经第二同轴线耦合圆环(22)耦合输出,穿过平凹腔中位于凹面镜(11)中心附近的输出能量耦合孔(121)后经另一段同轴线传回至矢量网络分析仪(3)。
2.根据权利要求1所述的基于准光学谐振腔的介质材料复介电常数测试装置,其特征在于,通过调节所述第一同轴线耦合圆环(21)和所述第二同轴线耦合圆环(22)的尺寸大小能够实现信号耦合输入能量和耦合输出能量大小的调节。
3.根据权利要求1或2所述的基于准光学谐振腔的介质材料复介电常数测试装置,其特征在于,所述凹面镜或平面镜为金属材料制作或玻璃基底加表面金属化制作。
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