[发明专利]一种氮化镓功率场效应晶体管无效

专利信息
申请号: 201210145723.1 申请日: 2012-05-11
公开(公告)号: CN103390643A 公开(公告)日: 2013-11-13
发明(设计)人: 刘朋;王振中;李超 申请(专利权)人: 无锡派腾微纳米科技有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/417;H01L29/423
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214174 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种氮化镓功率场效应晶体管的结构,包括衬底、缓冲层、外延在缓冲层上的氮化镓(GaN)沟道层,外延在GaN上的铝镓氮(AlGaN)层、源极、漏极、栅极,以及栅极与AlGaN之间的多晶硅层和绝缘层。当栅极电压为负时,栅极金属层的电子隧穿到多晶硅层,增加GaN场效应晶体管的开启电压从而提高了GaN场效应晶体管的开关性能,并降低晶体管自身的功率损耗。
搜索关键词: 一种 氮化 功率 场效应 晶体管
【主权项】:
一种氮化镓功率场效应晶体管,其特征在于,所述的结构包括衬底、位于所述衬底表面的缓冲层、外延方法形成在所述缓冲层表面的氮化镓沟道层,外延方法形成在所述氮化镓表面上的铝镓氮层、沉积于所述铝镓氮表面的源极和漏极、位于源极和漏极之间的栅极,以及位于所述栅极与铝镓氮之间的多晶硅层和绝缘层。
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