[发明专利]一种氮化镓功率场效应晶体管无效
申请号: | 201210145723.1 | 申请日: | 2012-05-11 |
公开(公告)号: | CN103390643A | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 刘朋;王振中;李超 | 申请(专利权)人: | 无锡派腾微纳米科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L29/417;H01L29/423 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214174 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种氮化镓功率场效应晶体管的结构,包括衬底、缓冲层、外延在缓冲层上的氮化镓(GaN)沟道层,外延在GaN上的铝镓氮(AlGaN)层、源极、漏极、栅极,以及栅极与AlGaN之间的多晶硅层和绝缘层。当栅极电压为负时,栅极金属层的电子隧穿到多晶硅层,增加GaN场效应晶体管的开启电压从而提高了GaN场效应晶体管的开关性能,并降低晶体管自身的功率损耗。 | ||
搜索关键词: | 一种 氮化 功率 场效应 晶体管 | ||
【主权项】:
一种氮化镓功率场效应晶体管,其特征在于,所述的结构包括衬底、位于所述衬底表面的缓冲层、外延方法形成在所述缓冲层表面的氮化镓沟道层,外延方法形成在所述氮化镓表面上的铝镓氮层、沉积于所述铝镓氮表面的源极和漏极、位于源极和漏极之间的栅极,以及位于所述栅极与铝镓氮之间的多晶硅层和绝缘层。
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