[发明专利]封装后电池片失效的检测方法

摘要

本发明涉及一种封装后电池片失效的检测方法，具有如下步骤：a）根据组件的I-V曲线判断组件异常类型，b）如果根据组件I-V曲线判断，组件存在电流问题引起的异常，组件通过EL测试判断疑似失效电池片的位置，测试疑似失效电池片以及相邻电池片的电流，根据电流临界值Im判测试过的电池片是否电流失效；c）如果根据组件I-V曲线判断，组件存在电压问题引起的异常，对组件中的每串进行分段测量，找出电压偏低的部分，找出电压偏低的部分后逐片测试电压偏低部分的电池片的电压，根据电压临界值Vm判断测试过的电池片是否电压失效。本发明的有益效果是：根据客户需求快速判断电池封装后的失效类型，保证组件电性能满足客户要求。

主权项

一种封装后电池片失效的检测方法，其特征是：具有如下步骤：a）根据组件的I‑V曲线判断组件异常类型，是电流问题引起的异常，还是电压问题引起的异常；b）如果根据组件I‑V曲线判断，组件存在电流问题引起的异常，组件通过EL测试判断疑似失效电池片的位置，测试疑似失效电池片以及相邻电池片的电流，根据电流临界值Im判测试过的电池片是否电流失效，电池片的电流大于Im，电池片正常，电池片的电流小于Im，电池片电流失效；c）如果根据组件I‑V曲线判断，组件存在电压问题引起的异常，对组件中的每串进行分段测量，找出电压偏低的部分，找出电压偏低的部分后逐片测试电压偏低部分的电池片的电压，根据电压临界值Vm判断测试过的电池片是否电压失效，电池片的电压大于Vm，电池片正常，电池片的电压小于Vm，电池片电压失效；得到Im和Vm的方法为：首先把同效率段的电池片在同等光源条件下辐照，测试在其正常工作并达到客户需求的最低功率Pm时，对应的电流值Im和电压值Vm，以Im和Vm作为临界值。