[发明专利]可容软错误的扫描链触发器

摘要

本发明涉及集成电路技术的可靠性领域。公开了一种可容软错误的扫描链触发器，包括多路选择器(MUX)、并行触发器模块(Multi‑FF)、软错误处理单元(C‑element)以及保持电路(Keeper)。本发明提供的可容软错误的扫描链触发器有三种工作模式，分别为容错模式、扫描测试模式和低功耗模式。与已有的可容软错误的扫描链触发器(EC design)相比较，本发明在性能(面积、功耗、延迟)得到改善的前提下，功能完全相同，并简化了扫描测试时的控制时序，从原来的4个控制时钟简化为1个控制时钟，使之更容易应用于正常的ATE扫描测试。

主权项

一种可容软错误的扫描链触发器，其特征在于，包括多路选择器(MUX)、并行触发器模块(Multi‑FF)、软错误处理单元(C‑element)以及保持电路(Keeper)，其各部分描述如下：1)所述的多路选择器(MUX)用于在输入信号SCAN_IN和输入信号D之间选择一个信号输出到并行触发器模块(Multi‑FF)，选择信号为SCAN_EN；2)所述的并行触发器模块(Multi‑FF)用于将从多路选择器MUX接收到的输入在时钟上升沿的时候传输到错误处理单元(C‑element)；3)所述的错误处理单元(C‑element)用于保证在触发器发生软错误时这个错误的值并不会扩散到输出端；4)所述的保持电路(Keeper)用于在错误处理单元(C‑element)的输出为高阻态时保持输出信号Q的值。