[发明专利]可容软错误的扫描链触发器有效
申请号: | 201210139023.1 | 申请日: | 2012-05-07 |
公开(公告)号: | CN103391102B | 公开(公告)日: | 2017-10-03 |
发明(设计)人: | 王秋实;冯建华 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H03M11/20 | 分类号: | H03M11/20 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100871 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 可容软 错误 扫描 触发器 | ||
1.一种可容软错误的扫描链触发器,其特征在于,包括多路选择器(MUX)、并行触发器模块(Multi-FF)、软错误处理单元(C-element)以及保持电路(Keeper),其各部分描述如下:
1)所述的多路选择器(MUX)用于在输入信号SCAN_IN和输入信号D之间选择一个信号输出到并行触发器模块(Multi-FF),选择信号为SCAN_EN;
2)所述的并行触发器模块(Multi-FF)用于将从多路选择器MUX接收到的输入在时钟上升沿的时候传输到错误处理单元(C-element);
3)所述的错误处理单元(C-element)用于保证在触发器发生软错误时这个错误的值并不会扩散到输出端;
4)所述的保持电路(Keeper)用于在错误处理单元(C-element)的输出为高阻态时保持输出信号Q的值。
2.如权利要求1所述的一种可容软错误的扫描链触发器,其特征在于,多路选择器(MUX)包括2个与门AND1和AND2、1个或门OR1和1个反相器INV1;与门AND1的两个输入分别接输入信号SCAN_IN和输入信号SCAN_EN,输出为或门OR1的一个输入;反相器INV1的输入接输入信号SCAN_EN,输出为与门AND2的一个输入;与门AND2的另外一个输入接输入信号D,输出为或门OR1的另外一个输入;或门OR1的输出为整个多路选择器MUX的输出信号DD。
3.如权利要求1所述的一种可容软错误的扫描链触发器,其特征在于,并行触发器模块(Multi-FF)由2个主从式触发器FF1和FF2组成;触发器FF1和触发器FF2的数据输出输入端D都连接到多路选择器MUX的输出信号DD;触发器FF1的时钟输入端C连接到输入信号CLK,数据输出端Q为整个并行触发器模块Multi-FF的输出信号O1;触发器FF2的时钟输入端C是输入信号CLK和输入信号LPn经过一个与门得到的新的信号,数据输出端Q为整个并行触发器模块Multi-FF的输出信号O2。
4.如权利要求1所述的一种可容软错误的扫描链触发器,其特征在于,软错误处理单元(C-element)由3个NMOS管、3个PMOS管和一个反相器INV2组成;其中,NMOS管N2和NMOS管N3并联,它们的源级连接到地线GND,漏极连接到NMOS管N1的源级,N2的栅极连接到并行触发器模块Multi-FF的输出信号O2,N3的栅极连接到反相器INV2的输出;NMOS管N1的栅极连接到并行触发器模块Multi-FF的输出信号O1,它的漏极连接到输出信号Q;反相器INV2的输入连接到输入信号LPn,输出连接到NMOS管N3的栅级;PMOS管P2和PMOS管P3并联,它们的源级连接到电源线VDD,漏极连接到PMOS管P1的源级,P2的栅极连接到并行触发器模块Multi-FF的输出信号O2,P3的栅极连接到输入信号LPn;PMOS管P1的栅极连接到并行触发器模块Multi-FF的输出信号O1,它的漏极连接到输出信号Q。
5.如权利要求1所述的一种可容软错误的扫描链触发器,其特征在于,保持电路(Keeper)由两个反相器INV3和INV4组成;反相器INV4的输入端连接到输出信号Q,输出端连接到反相器INV3的输入,反相器INV3的输出端连接到输出信号Q。
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