[发明专利]测试系统及其对电子装置进行结构外形设计的方法

摘要

本发明涉及一种测试系统及其对电子装置进行结构外形设计的方法，该测试系统先对电子装置的结构外形进行模拟分析，得出硬盘的振动能量频谱图，若该输出的振动能量频谱图与标准的频谱图相似，才会做出电子装置的样品来，此刻做出的电子装置样品已经可能满足客户的要求或者仅仅修要对样品进行较小的修改就能满足客户的要求，而无需重复多次做样品，从而大大节省了设计人员的时间和降低了电子装置的开发费用。

主权项

一种测试系统，其用于对包括一硬盘的电子装置做测试，其特征在于，该测试系统包括：一存储单元，其存储有一标准振动能量频谱图和客户定义的硬盘性能要求；及一控制单元，其包括：一模拟分析模块，用于对设计的电子装置的结构外形进行有限元模拟分析，输出硬盘的振动能量频谱图；一判断模块，用于判断该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图是否相似；一频率点分析模块，用于当该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图不相似时，获取两频谱图中振动能量相差较大的频率点及分析所述频率点；一外形设计模块，用于根据频率点分析模块对所述频率点的分析情况重新设计电子装置的结构外形；一样品提示模块，用于当该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图相似时，提示用户进行电子装置样品制作；一性能获取模块，用于根据用户制作的电子装置样品对该样品做硬盘的振动测试分析获取硬盘的性能，该判断模块还用于判断获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求是否相符；及一修改模块，用于当获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求不相符时，修改样品的结构外形并将该修改后的结构外形发送至模拟分析模块进行分析；当获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求相符时，该样品提示模块还用于提示用户按该制作的样品的结构外形进行批量生产。