[发明专利]测试系统及其对电子装置进行结构外形设计的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试系统，更具体地，涉及一种测试系统及其对电子装置进行结构外形设计的方法。

背景技术

现有的电子装置，如服务器，都是先通过测试软件对其硬盘做振动测试，根据测试结果来设计服务器的结构外形，做出服务器的样品来，同时根据服务器样品做硬盘振动测试分析出硬盘的性能，当硬盘的性能与客户定义的硬盘性能比较相差较远时，服务器设计人员需花大量的时间去改变服务器的结构外形，且需重新打样，再次根据改变的服务器样品去验证是否符合客户的要求，因此，大大浪费了设计人员的时间和提高了服务器的开发费用。

发明内容

为了解决上述存在的问题，本发明的目的在于，提供一种测试系统，其用于对包括一硬盘的电子装置做测试，该测试系统包括：一存储单元，其存储有一标准振动能量频谱图和客户定义的硬盘性能要求；及一控制单元，其包括：一模拟分析模块，用于对设计的电子装置的结构外形进行有限元模拟分析，输出硬盘的振动能量频谱图；一判断模块，用于判断该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图是否相似；一频率点分析模块，用于当该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图不相似时，获取两频谱图中振动能量相差较大的频率点及分析所述频率点；一外形设计模块，用于根据频率点分析模块对所述频率点的分析情况重新设计电子装置的结构外形。

该控制单元还包括：一样品提示模块，用于当该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图相似时，提示用户进行电子装置样品制作；一性能获取模块，用于根据用户制作的电子装置样品对该样品做硬盘的振动测试分析获取硬盘的性能，该判断模块还用于判断获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求是否相符；及一修改模块，用于当获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求不相符时，修改样品的结构外形并将该修改后的结构外形发送至模拟分析模块进行分析；当获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求相符时，该样品提示模块还用于提示用户按该制作的样品的结构外形进行批量生产。

一种测试系统对电子装置进行结构外形设计的方法，该测试系统存储有一标准振动能量频谱图和客户定义的硬盘性能要求，该电子装置包括一硬盘，该方法包括如下步骤：对设计的电子装置的结构外形进行有限元模拟分析，输出硬盘的振动能量频谱图；判断该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图是否相似；如果该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图不相似，获取两频谱图中振动能量相差较大的频率点及分析所述频率点；根据频率点分析模块对所述频率点的分析情况重新设计电子装置的结构外形；如果该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图相似，提示用户进行电子装置样品制作，根据用户制作的电子装置样品对该样品做硬盘的振动测试分析获取硬盘的性能；判断获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求是否相符；如果获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求不相符，修改样品的结构外形并将该修改后的结构外形进行有限元模拟分析；及如果获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求相符，提示用户按该制作的样品的结构外形进行批量生产。

本发明一种测试系统及其对电子装置进行结构外形设计的方法，该测试系统先对电子装置的结构外形进行模拟分析，得出硬盘的振动能量频谱图，若该输出的振动能量频谱图与标准的频谱图相似，才会做出电子装置的样品来，此刻做出的电子装置样品已经可能满足客户的要求或者仅仅修要对样品进行较小的修改就能满足客户的要求，而无需重复多次做样品，从而大大节省了设计人员的时间和降低了电子装置的开发费用。

附图说明

图1是本发明一测试系统连接电子装置的硬件结构示意图。

图2是图1的测试系统的控制单元的硬件结构示意图。

图3是图1的测试系统对电子装置进行结构外形设计的方法流程图。

主要元件符号说明