[发明专利]测试系统及其对电子装置进行结构外形设计的方法

权利要求书

1.一种测试系统，其用于对包括一硬盘的电子装置做测试，其特征在于，该测试系统包括：

一存储单元，其存储有一标准振动能量频谱图和客户定义的硬盘性能要求；及

一控制单元，其包括：

一模拟分析模块，用于对设计的电子装置的结构外形进行有限元模拟分析，输出硬盘的振动能量频谱图；

一判断模块，用于判断该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图是否相似；

一频率点分析模块，用于当该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图不相似时，获取两频谱图中振动能量相差较大的频率点及分析所述频率点；

一外形设计模块，用于根据频率点分析模块对所述频率点的分析情况重新设计电子装置的结构外形；

一样品提示模块，用于当该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图相似时，提示用户进行电子装置样品制作；

一性能获取模块，用于根据用户制作的电子装置样品对该样品做硬盘的振动测试分析获取硬盘的性能，该判断模块还用于判断获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求是否相符；及

一修改模块，用于当获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求不相符时，修改样品的结构外形并将该修改后的结构外形发送至模拟分析模块进行分析；当获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求相符时，该样品提示模块还用于提示用户按该制作的样品的结构外形进行批量生产。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，硬盘的性能包括吞吐量和振动能量值。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，该有限元模拟分析为MSC-Nastran模拟分析。

4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，该存储单元还存储有硬盘的一振动测试程序及硬盘的几何和材料参数，该控制单元还包括：

一振动测试模块，用于获取存储的测试程序对硬盘做振动测试；

该输出控制模块还用于输出硬盘振动测试产生的扭力频谱图；

一参数获取模块，用于获取存储的硬盘的几何和材料参数；及

该外形设计模块还用于根据硬盘振动测试产生的扭力频谱图及硬盘的几何和材料参数重新设计电子装置的结构外形。

5.一种测试系统对电子装置进行结构外形设计的方法，该测试系统存储有一标准振动能量频谱图和客户定义的硬盘性能要求，该电子装置包括一硬盘，其特征在于，该方法包括如下步骤：

对设计的电子装置的结构外形进行有限元模拟分析，输出硬盘的振动能量频谱图；

判断该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图是否相似；

如果该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图不相似，获取两频谱图中振动能量相差较大的频率点及分析所述频率点；

根据频率点分析模块对所述频率点的分析情况重新设计电子装置的结构外形；

如果该输出的振动能量频谱图与存储的标准振动能量频谱图相似，提示用户进行电子装置样品制作，根据用户制作的电子装置样品对该样品做硬盘的振动测试分析获取硬盘的性能；

判断获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求是否相符；

如果获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求不相符，修改样品的结构外形并将该修改后的结构外形进行有限元模拟分析；及

如果获取的硬盘性能与客户定义的硬盘性能要求相符，提示用户按该制作的样品的结构外形进行批量生产。

6.根据权利要求5所述的测试系统对电子装置进行结构外形设计的方法，该测试系统还存储有硬盘的一振动测试程序及硬盘的几何和材料参数，其特征在于，该方法还包括步骤：

获取存储的测试程序对硬盘做振动测试；

输出硬盘振动测试产生的扭力频谱图；

获取存储的硬盘的几何和材料参数；及

根据硬盘振动测试产生的扭力频谱图及硬盘的几何和材料参数重新设计电子装置的结构外形。

7.根据权利要求5所述的测试系统对电子装置进行结构外形设计的方法，其特征在于，硬盘的性能包括吞吐量和振动能量值。

8.根据权利要求5所述的测试系统对电子装置进行结构外形设计的方法，其特征在于，该有限元模拟分析为MSC-Nastran模拟分析。