[发明专利]发光器件检查设备和方法无效
| 申请号： | 201210088731.7 | 申请日： | 2012-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN102735982A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 池元秀;朴大绪;金秋浩 | 申请（专利权）人： | 三星LED株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01M11/02;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 王占杰;韩芳 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于检查发光器件的特性的发光器件检查设备，所述发光器件包括发射光的一个或多个发光单元，所述发光器件检查设备包括：探测单元，具有工作台和探针，所述发光器件安装在所述工作台上，所述探针向所述发光器件供给电流；图像获取单元，用于获取所述发光器件的图像；以及确定单元，用于通过从所述图像的亮度信息检测所述一个或多个发光单元的发光来确定所述发光器件的开路/短路缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 器件 检查 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于检查发光器件的特性的发光器件检查设备，所述发光器件包括发射光的一个或多个发光单元，所述发光器件检查设备包括：探测单元，包括工作台和探针，所述发光器件安装在所述工作台上，所述探针向所述发光器件供给电流；图像获取单元，用于获取所述发光器件的图像；以及确定单元，用于通过从所述图像的亮度信息检测所述一个或多个发光单元的发光来确定所述发光器件的开路/短路缺陷。
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