[发明专利]一种三轴微机械陀螺仪有效
申请号: | 201210086873.X | 申请日: | 2012-03-26 |
公开(公告)号: | CN102636162A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 王巍;张廷凯;徐宇新;邢朝洋;庄海涵 | 申请(专利权)人: | 北京航天时代光电科技有限公司 |
主分类号: | G01C19/56 | 分类号: | G01C19/56 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 范晓毅 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种三轴微机械陀螺仪,包括基板和固定安装在基板上的陀螺仪主体,其中陀螺仪主体包括平面检测单元和z轴检测单元,平面检测单元包括第一支撑梁、联动梁、驱动电极和第一质量块,z轴检测单元由八个模块组成,其中四个模块沿x轴在y轴质量块两侧分布,剩余四个模块沿y轴在x轴质量块两侧分布,每个模块包括第二支撑梁、解耦梁、驱动梁、第二质量块和检测电极,本发明整体结构采用单驱动设计,采用梳齿电极驱动,平面x轴和y轴通过变间隙平板电容检测,z轴通过梳齿电容检测,x、y和z轴分别实现了驱动和检测的解耦,本发明陀螺仪结构紧凑、制作工艺简单、成本低廉、具有较高性能,能实现良好的测量精度和灵敏度。 | ||
搜索关键词: | 一种 微机 陀螺仪 | ||
【主权项】:
一种三轴微机械陀螺仪,其特征在于:包括基板(1)和固定安装在基板(1)上的陀螺仪主体(2),其中陀螺仪主体(2)包括平面检测单元和z轴检测单元,所述平面检测单元包括第一支撑梁(3)、联动梁(4)、驱动电极(13)和第一质量块(5),其中第一质量块(5)包括两个沿y轴分布的x轴检测质量块(x1、x2)和两个沿x轴分布的y轴检测质量块(y1、y2),且所述四个质量块以基板(1)中心点对称分布,联动梁(4)与支撑梁(3)均为四个,均依次将x轴检测质量块(x1)、y轴检测质量块(y1)、x轴检测质量块(x2)和y轴检测质量块(y2)连接,驱动电极(13)为四个,分别与四个第一质量块(5)连接,此外基板(1)上对应第一质量块(5)的位置制作金属层,形成平面检测下电极(10);z轴检测单元由八个模块组成,其中四个模块(a、b、c、d)沿y轴在x轴检测质量块(x1、x2)两侧分布,剩余四个模块(e、f、g、h)沿x轴在y轴检测质量块(y1、y2)两侧分布,每个模块包括第二支撑梁(6)、解耦梁(7)、驱动梁(8)、第二质量块(9)和检测电极(11),其中驱动梁(8)一端连接第一质量块(5),另一端连接第二质量块(9),解耦梁(7)分别连接第二质量块(9)和检测电极(11),第二支撑梁(6)连接检测电极(11)。
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