[发明专利]一种三轴微机械陀螺仪有效

专利信息
申请号: 201210086873.X 申请日: 2012-03-26
公开(公告)号: CN102636162A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 王巍;张廷凯;徐宇新;邢朝洋;庄海涵 申请(专利权)人: 北京航天时代光电科技有限公司
主分类号: G01C19/56 分类号: G01C19/56
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 范晓毅
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 微机 陀螺仪
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种微机械陀螺仪,尤其涉及一种单驱动三轴检测的单结构三轴微机械陀螺仪。属于微机电系统(MEMS)领域。

背景技术

微机械陀螺仪是基于微机电系统技术的惯性器件,可用于测量物体运动的角速度,由于它采用MEMS技术设计和制作,因此具有体积小、质量轻、适合大批量生产和价格低廉的特点,因此在消费电子产品,如数码相机图像稳定、游戏机运动控制、智能手机、掌上电脑和微导航仪等新兴产业上得到应用。

微机械陀螺仪包括驱动部分和检测部分,通过驱动和检测运动的耦合作用实现对运动角速度的测量,因此其设计和制作具有一定的复杂性,而实现高集成的三轴陀螺仪将更加困难。目前单轴陀螺仪的设计和制作技术已经成熟,而三轴陀螺仪相对发展滞后,一般是多个单轴或两轴陀螺仪正交装配,或者将多个陀螺仪集成在单个基板上来实现,但这些都不能满足消费电子产品对陀螺仪小型化的要求,随着市场的发展,新兴产业的带动,单结构高集成度微机械三轴陀螺仪必然会迎来快速发展的时代。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的上述不足,提供一种三轴微机械陀螺仪,该陀螺仪结构紧凑、制作工艺简单、成本低廉、具有较高性能,能实现良好的测量精度和灵敏度。

本发明的上述目的主要是通过如下技术方案予以实现的:

一种三轴微机械陀螺仪,包括基板和固定安装在基板上的陀螺仪主体,其中陀螺仪主体包括平面检测单元和z轴检测单元,平面检测单元包括第一支撑梁、联动梁、驱动电极和第一质量块,其中第一质量块包括两个沿y轴分布的x轴检测质量块x1、x2和两个沿x轴分布的y轴检测质量块y1、y2,且所述四个质量块以基板中心点对称分布,联动梁与支撑梁均为四个,均依次将x轴检测质量块x1、y轴检测质量块y1、x轴检测质量块x2和y轴检测质量块y2连接,驱动电极为四个,分别与四个第一质量块连接,此外基板上对应第一质量块的位置制作金属层,形成平面检测下电极;z轴检测单元由八个模块组成,其中四个模块a、b、c、d沿y轴在x轴检测质量块x1、x2两侧分布,剩余四个模块e、f、g、h沿x轴在y轴检测质量块y1、y2两侧分布,每个模块包括第二支撑梁、解耦梁、驱动梁、第二质量块和检测电极,其中驱动梁一端连接第一质量块,另一端连接第二质量块,解耦梁分别连接第二质量块和检测电极,第二支撑梁连接检测电极。

在上述三轴微机械陀螺仪中,第一支撑梁包括内支撑梁和外支撑梁,其中内支撑梁两端分别连接相邻的x轴检测质量块和y轴检测质量块的内端,外支撑梁两端分别连接相邻的x轴检测质量块和y轴检测质量块的外端。

在上述三轴微机械陀螺仪中,内支撑梁和外支撑梁的拐角处焊接在基板上。

在上述三轴微机械陀螺仪中,驱动电极包括固定电极和可动电极,固定电极固置在基板上,可动电极与第一质量块连接。

在上述三轴微机械陀螺仪中,检测电极包括检测固定电极和检测活动电极,检测固定电极固置在基板上,检测活动电极连接第二支撑梁和解耦梁。

在上述三轴微机械陀螺仪中,驱动梁为z字型梁或H型梁。

在上述三轴微机械陀螺仪中,第一质量块和第二质量块上布置有孔。

本发明与现有技术相比具有如下有益效果:

(1)本发明陀螺仪为单结构微机械三轴陀螺仪,三轴通过相同驱动实现,平面检测采用变间隙电容检测,z轴检测采用线振动梳齿电容检测,由于在单个结构上实现了三个轴向检测模块的集成,使其结构紧凑,可大幅减小陀螺仪体积和重量,使陀螺仪具有较广的应用范围;

(2)本发明陀螺仪采用电容差模检测,增大了检测信号输出,同时抑制了噪声干扰,能实现良好的测量精度和灵敏度,

(3)本发明陀螺仪制作工艺简单、成本低廉、具有较高性能,适合大批量生产。

附图说明

图1为本发明单结构微机械三轴陀螺仪的立体结构示意图;

图2为本发明单结构微机械三轴陀螺仪结构层的示意图;

图3为本发明单结构微机械三轴陀螺仪结构层沿A-A剖面图;

图4为本发明单结构微机械三轴陀螺仪基板的主视图;

图5为本发明单结构微机械三轴陀螺仪驱动和z轴检测运动示意图;

图6为本发明单结构微机械三轴陀螺仪平面检测运动示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细的描述:

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