[发明专利]一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置有效
| 申请号： | 201210076870.8 | 申请日： | 2012-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN102628950A | 公开（公告）日： | 2012-08-08 |
| 发明（设计）人： | 秦秀波;赵博震;朱美玲;袁路路;赵维;舒航;曹大泉;孙翠丽;魏存峰;魏龙 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01T1/00 | 分类号： | G01T1/00;G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;陈亮 |
| 地址： | 100039 北京市石景山区玉*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置。所述装置包括X射线光源、光学平台、滤光片、光圈限束器、测试器件和待测探测器；所述X射线光源用于产生具有特定能量和发散角的X射线；所述滤光片通过光具座固定在所述X射线光源的出口处，用于调节X射线的能谱；所述光圈限束器通过光具座固定在所述滤光片的出口处，用于控制X射线在所述待测探测器表面的射野；所述测试器件紧贴所述待测探测器前端面放置，采集不同射线品质及辐射剂量下的平场图像和边缘图像，并通过对输出图像的分析计算得到相应的性能测试参数。该装置能够针对DQE有关的所有参数进行测试，且具有结构简单、成本低廉的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 射线 平板 探测器 进行 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置，其特征在于，所述装置包括X射线光源、光学平台、滤光片、光圈限束器、测试器件和待测探测器，其中：所述滤光片、光圈限束器、测试器件和待测探测器均放置在所述光学平台上，通过特制光具座调节各器件的相对高度，使不同器件的轴心在同一高度上，并通过所述光学平台上的位移台调节各器件在水平方向上的相对位置；所述X射线光源用于产生具有特定能量和发散角的X射线；所述滤光片通过光具座固定在所述X射线光源的出口处，用于调节X射线的能谱；所述光圈限束器通过光具座固定在所述滤光片的出口处，用于控制X射线在所述待测探测器表面的射野，并最大限度地降低散射效应；所述测试器件紧贴所述待测探测器前端面放置，通过改变所述X射线光源产生的X射线的射线品质和辐射剂量，采集不同射线品质及辐射剂量下的平场图像和所述测试器件的刀口组件的边缘图像，并通过对输出图像的分析计算得到相应的性能测试参数。
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