[发明专利]一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置有效
申请号: | 201210076870.8 | 申请日: | 2012-03-21 |
公开(公告)号: | CN102628950A | 公开(公告)日: | 2012-08-08 |
发明(设计)人: | 秦秀波;赵博震;朱美玲;袁路路;赵维;舒航;曹大泉;孙翠丽;魏存峰;魏龙 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G01T1/00 | 分类号: | G01T1/00;G01M11/00 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;陈亮 |
地址: | 100039 北京市石景山区玉*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 针对 射线 平板 探测器 进行 性能 测试 装置 | ||
1.一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置,其特征在于,所述装置包括X射线光源、光学平台、滤光片、光圈限束器、测试器件和待测探测器,其中:
所述滤光片、光圈限束器、测试器件和待测探测器均放置在所述光学平台上,通过特制光具座调节各器件的相对高度,使不同器件的轴心在同一高度上,并通过所述光学平台上的位移台调节各器件在水平方向上的相对位置;
所述X射线光源用于产生具有特定能量和发散角的X射线;
所述滤光片通过光具座固定在所述X射线光源的出口处,用于调节X射线的能谱;
所述光圈限束器通过光具座固定在所述滤光片的出口处,用于控制X射线在所述待测探测器表面的射野,并最大限度地降低散射效应;
所述测试器件紧贴所述待测探测器前端面放置,通过改变所述X射线光源产生的X射线的射线品质和辐射剂量,采集不同射线品质及辐射剂量下的平场图像和所述测试器件的刀口组件的边缘图像,并通过对输出图像的分析计算得到相应的性能测试参数。
2.如权利要求1所述的针对X射线平板探测器进行性能测试的装置,其特征在于,所述光圈限束器进一步包括:中心带有方孔的方孔铅板和中心带有圆孔的圆孔铅板,所述圆孔铅板根据实际测试过程中不同位置的需要具有多种不同的尺寸规格,其中:
所述方孔铅板设置于所述测试器件之前,并选用相应尺寸规格的圆孔铅板设置在所述方孔铅板之前,且该圆孔铅板设置在所述滤光片的出口处。
3.如权利要求1所述的针对X射线平板探测器进行性能测试的装置,其特征在于,
所述光圈限束器由有机玻璃和铅板组成,并形成有机玻璃,铅板,有机玻璃的夹心结构,以保证铅板的平整性并实现合理的机械固定。
4.如权利要求1所述的针对X射线平板探测器进行性能测试的装置,其特征在于,所述通过改变所述X射线光源产生的X射线的射线品质和辐射剂量,采集不同射线品质及辐射剂量下的平场图像和所述测试器件的刀口组件的边缘图像,具体包括:
改变所述X射线光源的球管电压以及滤光片的厚度,产生不同射线品质的X射线;和/或,改变所述X射线光源的球管电流以及曝光时间,产生不同辐射剂量的X射线;
在所述测试器件未放置于辐射束流中时,分别采集相应辐射剂量下对应的曝光时间内产生的总信号,包括X射线经所述待测探测器增益产生的信号和所述待测探测器的本底噪声,并连续采集多张平场图像;
在将所述测试器件放置于辐射束流中,分别采集相应辐射剂量下和相应曝光时间内所述测试器件的刀口组件产生的边缘图像,边缘方向与图像阵列的行像素或列像素成一定夹角,连续采集多张边缘图像。
5.如权利要求1所述的针对X射线平板探测器进行性能测试的装置,其特征在于,所述装置还包括辐射剂量仪,其中:
该辐射剂量仪在所述待测探测器测试开始前先被放置在所述待测探测器的位置进行测试,用于测试所述待测探测器表面位置处的辐射剂量以及空气的比释动能。
6.如权利要求1所述的针对X射线平板探测器进行性能测试的装置,其特征在于,所述装置还包括:
数据采集和分析单元,用于采集所述待测探测器的输出图像,并通过对输出图像的分析计算得到所述待测探测器的测试性能参数,并输出曲线图像以及原始数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理研究所,未经中国科学院高能物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210076870.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一体式多腔并联油品净化器
- 下一篇:一种卷板机滚弯成形曲率半径测量装置