[发明专利]一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置

说明书

技术领域

本发明涉及数字影像设备技术领域，尤其涉及一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置。

背景技术

目前，数字化X射线摄影(Digital Radiography，DR)是传统X射线摄影(ComputedRadiography，CR)向数字化迈进的关键一步，而对DR影像质量的评价方法是该技术发展的关键问题。对于DR影像来说，其影像质量不仅与传统X射线影像学通常采用的空间分辨率、动态范围、对比度分辨率、噪声以及调制传递函数等指标相关，还受到探测器单元面积、灵敏度、入射X射线剂量以及能量、图像的数据处理方法等因素的影响，因而分散的性能参数均不能全面说明DR系统的特点。

检出量子效率(Detective Quantum Efficiency，DQE)是目前DR影像设备中被普遍接受和采用的描述成像设备信号噪声传递特性的客观物理量，其定义为输入信号与输出信号的噪声功率谱(Noise Power Spectrum，NPS)之比，其中输入NPS是辐射场在DR影像设备表面的NPS，且经由系统的传递函数滤波，输出NPS则为实际测得的初始数据的NPS，如下式所示：

DQE(u,v)=G2MTF2(u,v)Win(u,v)Wout(u,v)]]>

上述DQE综合考虑了噪声、调制传递函数以及X射品质等多种因素对系统性能的影响，其中G为探测器在零频时转化函数(Conversion Function)的一部分，MTF为调制传递函数(Modulation Transfer Function，MTF)，W_in(u，v)和W_out(u，v)分别为输入和输出信号的噪声功率谱。

目前，学术研究和DR生产商均已广泛使用DQE作为产品和技术研发的表征手段，但现有技术中并没有相关的专用性能测试平台来进行DQE的测试，现有的测试方法并不统一，测试条件也不明确，导致测试结果之间一直没有可比性。

发明内容

本发明的目的是提供一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置，能够针对DQE有关的所有参数进行测试，且具有结构简单、成本低廉的优点。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

一种针对X射线平板探测器进行性能测试的装置，所述装置包括X射线光源、光学平台、滤光片、光圈限束器、测试器件和待测探测器，其中：

所述滤光片、光圈限束器、测试器件和待测探测器均放置在所述光学平台上，通过特制光具座调节各器件的相对高度，使不同器件的轴心在同一高度上，并通过所述光学平台上的位移台调节各器件在水平方向上的相对位置；

所述X射线光源用于产生具有特定能量和发散角的X射线；

所述滤光片通过光具座固定在所述X射线光源的出口处，用于调节X射线的能谱；

所述光圈限束器通过光具座固定在所述滤光片的出口处，用于控制X射线在所述待测探测器表面的射野，并最大限度地降低散射效应；

所述测试器件紧贴所述待测探测器前端面放置，通过改变所述X射线光源产生的X射线的射线品质和辐射剂量，采集不同射线品质及辐射剂量下的平场图像和所述测试器件的刀口组件的边缘图像，并通过对输出图像的分析计算得到相应的性能测试参数。

所述光圈限束器进一步包括：中心带有方孔的方孔铅板和中心带有圆孔的圆孔铅板，所述圆孔铅板根据实际测试过程中不同位置的需要具有多种不同的尺寸规格，其中：