[发明专利]存储装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201210068710.9 申请日: 2012-03-15
公开(公告)号: CN102983272A 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 山中贵哉;首藤晋;浅尾吉昭 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08;H01L43/12;G11C11/16
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 周春燕;陈海红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 实施方式涉及存储装置及其制造方法。存储装置具备:第1信号线、第2信号线、晶体管、第1存储区域和第2存储区域。晶体管对在第1、第2信号线之间流动的第1方向及相反的第2方向的电流的导通进行控制。第1存储区域连接于第1信号线与晶体管的一端之间,具有若在第1方向流动第1平行阈值以上的电流则磁化的朝向成为平行、若在第2方向流动第1反平行阈值以上的电流则成为反平行的第1磁性隧道接合元件。第2存储区域连接于第2信号线与晶体管的另一端之间,具有若在第2方向流动比第1平行阈值大的第2平行阈值以上的电流则磁化的朝向成为平行、若在第1方向流动比第1反平行阈值大的第2反平行阈值以上的电流则成为反平行的第2磁性隧道接合元件。
搜索关键词: 存储 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
一种存储装置,其特征在于,具备:第1信号线;第2信号线;晶体管,其对在前述第1信号线与前述第2信号线之间流动的第1方向的电流及与前述第1方向相反的第2方向的电流的各自的导通进行控制;第1存储区域,其连接于前述第1信号线与前述晶体管的一端之间,具有第1磁性隧道接合元件,该第1磁性隧道接合元件若在前述第1方向流动第1平行阈值以上的电流则磁化的朝向成为平行,若在前述第2方向流动第1反平行阈值以上的电流则磁化的朝向成为反平行;以及第2存储区域,其连接于前述第2信号线与前述晶体管的另一端之间,具有第2磁性隧道接合元件,该第2磁性隧道接合元件若在前述第2方向流动比前述第1平行阈值大的第2平行阈值以上的电流则磁化的朝向成为平行,若在前述第1方向流动比前述第1反平行阈值大的第2反平行阈值以上的电流则磁化的朝向成为反平行。
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