[发明专利]LED的耐热测试装置以及耐热测试方法无效
| 申请号： | 201210068419.1 | 申请日： | 2012-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN102628735A | 公开（公告）日： | 2012-08-08 |
| 发明（设计）人： | 胡俊 | 申请（专利权）人： | 威力盟电子(苏州)有限公司;威力盟电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215021 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种LED的耐热测试装置以及耐热测试方法，该耐热测试装置用于连板状态下的LED的耐热测试，包括：加热载板，用于承载该连板状态下的LED且对该连板状态下的LED进行加热；电性测试仪，包括测试探针，所述测试探针用于电连接该LED的引脚以驱动该LED并获得该LED的反馈信号；光学分析仪，用于对LED进行光学分析；控制主机，连接该电性测试仪以及该光学分析仪，该控制主机根据该电性测试仪获得的反馈信号以及该光学分析仪采集的数据来分析该LED是否合格，藉此可以于封装过程中直接对每一颗LED进行检测，保证LED产品出厂时的良率。 | ||
| 搜索关键词： | led 耐热 测试 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种LED的耐热测试装置，其特征在于，该耐热测试装置用于连板状态下的LED的耐热测试，该耐热测试装置包括：加热载板，用于承载该连板状态下的LED且对该连板状态下的LED进行加热；电性测试仪，所述电性测试仪包括测试探针，所述测试探针用于电连接该LED的引脚以驱动该LED并获得该LED的反馈信号；光学分析仪，用于对LED进行光学分析；控制主机，连接该电性测试仪以及该光学分析仪，该控制主机根据该电性测试仪获得的反馈信号以及该光学分析仪采集的数据来分析该LED是否合格。
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