[发明专利]LED的耐热测试装置以及耐热测试方法

权利要求书

1.一种LED的耐热测试装置，其特征在于，该耐热测试装置用于连板状态下的LED的耐热测试，该耐热测试装置包括：

加热载板，用于承载该连板状态下的LED且对该连板状态下的LED进行加热；

电性测试仪，所述电性测试仪包括测试探针，所述测试探针用于电连接该LED的引脚以驱动该LED并获得该LED的反馈信号；

光学分析仪，用于对LED进行光学分析；

控制主机，连接该电性测试仪以及该光学分析仪，该控制主机根据该电性测试仪获得的反馈信号以及该光学分析仪采集的数据来分析该LED是否合格。

2.如权利要求1所述的LED的耐热测试装置，其特征在于，该反馈信号为反馈电压。

3.如权利要求1所述的LED的耐热测试装置，其特征在于，所述耐热测试装置更包括移动构件，所述移动构件与该加热载板连接，通过调节移动构件可以调节该加热载板的空间位置。

4.如权利要求1所述的LED的耐热测试装置，其特征在于，该光学分析仪包括主机以及与主机连接的可移动的光感应器，所述光感应器用于感测LED发出的光，该电性测试仪的测试探针可移动。

5.如权利要求1所述的LED的耐热测试装置，其特征在于，该耐热测试装置更包括下料机构，当该控制主机分析该LED为不合格的LED时，该控制主机发送第一指令至该下料机构，该下料机构根据该第一指令去除该不合格的LED。

6.如权利要求1所述的LED的耐热测试装置，其特征在于，加热载板上设置有温度感应器用于感测LED的温度并根据温度感应器的感测结果来控制加热载板的加热温度。

7.一种LED的耐热测试方法，其特征在于，该耐热测试方法利用如权利要求1-4任意一项权利要求所述的耐热测试装置对连板状态下的LED进行耐热测试，该方法包含以下步骤：

步骤1.将该连板状态下的LED固定于该加热载板上；

步骤2.利用该加热载板对该连板状态下的LED进行加热；

步骤3.启动该电性测试仪，对该连板状态下的多颗LED逐一进行电性测试并将数据传送至该控制主机，且，启动该光学分析仪，对该连板状态下的多颗LED逐一进行光学分析并将数据传送至该控制主机；

步骤4.该控制主机根据接收的数据逐一分析该多颗LED是否合格。

8.如权利要求6所述的LED的耐热测试方法，其特征在于，该方法更包括：

步骤5.当该控制主机分析出某一LED为不合格的LED时，该控制主机发送第一指令至该下料机构，该下料机构根据该第一指令去除该不合格的LED。