[发明专利]激光二极管的测试装置、测试方法及制造方法无效
申请号: | 201210056430.6 | 申请日: | 2012-03-06 |
公开(公告)号: | CN103308277A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 李秉衡;曾国峰 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01R31/26;H01S5/00;G01J1/00 |
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地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种激光二极管的测试装置,其包括一个卡盘、一个电流源、一个悬架及一个光功率计。该卡盘用于承载一个激光二极管晶粒。该电流源用于向该激光二极管晶粒提供一个步进增长的电流的,该电流具有多个电流值,该电流源包括一个用于测量加载在该激光二极管晶粒上对应每个电流值的电压值的电压计。该悬架设置在该卡盘上的,该悬架包括有一个第一悬臂。该光功率计包括一个设置在该第一悬臂上且与该激光二极管晶粒正对的光侦测器及一个与该光侦测器连接且用于测量该激光二极管晶粒发出的对应每个电流值的光功率值的功率计。本发明还提供一种激光二级管的测试方法及制造方法。采用该测试装置、测试方法及制造方法可以降低激光二极管的成本。 | ||
搜索关键词: | 激光二极管 测试 装置 方法 制造 | ||
【主权项】:
一种测试装置,其包括:一个用于承载一个激光二极管晶粒的卡盘;一个用于向该激光二极管晶粒提供一个步进增长的电流的电流源,该电流具有多个电流值,该电流源包括一个用于测量加载在该激光二极管晶粒上对应每个电流值的电压值的电压计;一个设置在该卡盘上的悬架,该悬架包括有一个第一悬臂;及一个光功率计,其包括:一个设置在该第一悬臂上且与该激光二极管晶粒正对的光侦测器;及一个与该光侦测器连接且用于测量该激光二极管晶粒发出的对应每个电流值的光功率值的功率计。
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