[发明专利]一种基于异质结构的吸收、倍增层分离的紫外雪崩光电探测器无效

专利信息
申请号: 201210040786.0 申请日: 2012-02-22
公开(公告)号: CN102593234A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 黄泽强;江灏 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: H01L31/107 分类号: H01L31/107;H01L31/0352;H01L31/076
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 陈卫
地址: 510275 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种紫外探测器,尤其涉及一种基于异质结构的吸收、倍增层分离的紫外雪崩光电探测器。一种基于异质结构的吸收、倍增层分离的紫外雪崩光电探测器,其中,器件包括衬底,依次生长在衬底上的缓冲层,n型掺杂GaN层,非掺杂或低掺杂浓度的本征GaN吸收层,低掺杂浓度的n型GaN层,低掺杂浓度的n型AlGaN组分缓变层,非掺杂的本征AlxGa1-xN倍增层,p型掺杂AlGaN组分缓变层,p型掺杂GaN层。本发明提供了一种可实现低噪声、高增益的高性能紫外雪崩光电探测器。由于器件的特殊结构,正入射的信号即可实现空穴触发的雪崩增益,巧妙地避免了以往背入射的硬性要求,简化了工艺流程,降低了测试难度。
搜索关键词: 一种 基于 结构 吸收 倍增 分离 紫外 雪崩 光电 探测器
【主权项】:
一种基于异质结构的吸收、倍增层分离的紫外雪崩光电探测器,其特征在于:器件包括衬底(1),依次生长在衬底(1)上的缓冲层(2),n型掺杂GaN层(3),非掺杂或低掺杂浓度的本征GaN吸收层(4),低掺杂浓度的n型GaN层(5),低掺杂浓度的n型AlGaN组分缓变层(6),非掺杂的本征AlxGa1‑xN倍增层(7),p型掺杂AlGaN组分缓变层(8),p型掺杂GaN层(9)。
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