[发明专利]一种基于异质结构的吸收、倍增层分离的紫外雪崩光电探测器无效
申请号: | 201210040786.0 | 申请日: | 2012-02-22 |
公开(公告)号: | CN102593234A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 黄泽强;江灏 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L31/0352;H01L31/076 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 陈卫 |
地址: | 510275 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种紫外探测器,尤其涉及一种基于异质结构的吸收、倍增层分离的紫外雪崩光电探测器。一种基于异质结构的吸收、倍增层分离的紫外雪崩光电探测器,其中,器件包括衬底,依次生长在衬底上的缓冲层,n型掺杂GaN层,非掺杂或低掺杂浓度的本征GaN吸收层,低掺杂浓度的n型GaN层,低掺杂浓度的n型AlGaN组分缓变层,非掺杂的本征AlxGa1-xN倍增层,p型掺杂AlGaN组分缓变层,p型掺杂GaN层。本发明提供了一种可实现低噪声、高增益的高性能紫外雪崩光电探测器。由于器件的特殊结构,正入射的信号即可实现空穴触发的雪崩增益,巧妙地避免了以往背入射的硬性要求,简化了工艺流程,降低了测试难度。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 结构 吸收 倍增 分离 紫外 雪崩 光电 探测器 | ||
【主权项】:
一种基于异质结构的吸收、倍增层分离的紫外雪崩光电探测器,其特征在于:器件包括衬底(1),依次生长在衬底(1)上的缓冲层(2),n型掺杂GaN层(3),非掺杂或低掺杂浓度的本征GaN吸收层(4),低掺杂浓度的n型GaN层(5),低掺杂浓度的n型AlGaN组分缓变层(6),非掺杂的本征AlxGa1‑xN倍增层(7),p型掺杂AlGaN组分缓变层(8),p型掺杂GaN层(9)。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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