[发明专利]一种生长可变禁带宽度的Cd1-xZnxTe薄膜的方法无效
申请号: | 201210039923.9 | 申请日: | 2012-02-22 |
公开(公告)号: | CN102544230A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 王林军;徐闰;贡伟明;汤敏燕;徐海涛;黄健 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C23C14/22;C23C14/06;C23C16/448 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 顾勇华 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及的是一种Cd1-xZnxTe(CZT)薄膜的制备方法,属于无机非金属材料器件制造工艺领域。其中CZT薄膜制备方法是:采用掺少量Zn(x小于1%)的Cd1-xZnxTe多晶或单晶圆盘做升华源,用近空间升华法直接制备x<50%的Cd1-xZnxTe薄膜。采用CZT薄膜制备作为叠层太阳能电池顶层吸收层有利于促进低成本、高转化效率太阳能电池的发展,同时CdZnTe薄膜也可应用于高能粒子探测器。 | ||
搜索关键词: | 一种 生长 可变 宽度 cd sub zn te 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
一种生长可变禁带宽度的Cd1‑xZnxTe薄膜的方法,该方法具有如下工艺过程:将透明导电玻璃SnO2:F放入近空间升华沉积设备的样品台上,在上面沉积Cd1‑xZnxTe薄膜;沉积薄膜前先用真空泵对升华室抽真空至5Pa;采用掺少量Zn的Cd1‑xZnxTe多晶或单晶圆盘做升华源,其中x=4%,升华源温度550‑650°C,样品衬底温度300~500°C,腔体气压低于10 Pa,升华时间为30分钟,最终可实现x为5%‑50%的Cd1‑xZnxTe薄膜的可控沉积。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的