[发明专利]一种生长可变禁带宽度的Cd1-xZnxTe薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 201210039923.9 申请日: 2012-02-22
公开(公告)号: CN102544230A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 王林军;徐闰;贡伟明;汤敏燕;徐海涛;黄健 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;C23C14/22;C23C14/06;C23C16/448
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 顾勇华
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及的是一种Cd1-xZnxTe(CZT)薄膜的制备方法,属于无机非金属材料器件制造工艺领域。其中CZT薄膜制备方法是:采用掺少量Zn(x小于1%)的Cd1-xZnxTe多晶或单晶圆盘做升华源,用近空间升华法直接制备x<50%的Cd1-xZnxTe薄膜。采用CZT薄膜制备作为叠层太阳能电池顶层吸收层有利于促进低成本、高转化效率太阳能电池的发展,同时CdZnTe薄膜也可应用于高能粒子探测器。
搜索关键词: 一种 生长 可变 宽度 cd sub zn te 薄膜 方法
【主权项】:
一种生长可变禁带宽度的Cd1‑xZnxTe薄膜的方法,该方法具有如下工艺过程:将透明导电玻璃SnO2:F放入近空间升华沉积设备的样品台上,在上面沉积Cd1‑xZnxTe薄膜;沉积薄膜前先用真空泵对升华室抽真空至5Pa;采用掺少量Zn的Cd1‑xZnxTe多晶或单晶圆盘做升华源,其中x=4%,升华源温度550‑650°C,样品衬底温度300~500°C,腔体气压低于10 Pa,升华时间为30分钟,最终可实现x为5%‑50%的Cd1‑xZnxTe薄膜的可控沉积。
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