[发明专利]一种低介电常数压敏电阻材料及其制备方法无效
申请号: | 201210007305.6 | 申请日: | 2012-01-11 |
公开(公告)号: | CN102557612A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 王小波;冯志刚;贾广平 | 申请(专利权)人: | 深圳顺络电子股份有限公司 |
主分类号: | C04B35/453 | 分类号: | C04B35/453 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 518110 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种低介电常数压敏电阻材料,包括:90~97%的ZnO;0.1~3%的Bi2O3;0.1~3%的Sb2O3;0.1~2%的Cr2O3;0.1~1.5%的MnO2;0.1~1.5%的Co2O3;0.1~1%的Ni2O3;0.1~0.8%的H3BO3;0.1~0.8%的AgNO3;0.1-0.3%的Al2(NO3)3.9H2O;前述的百分比均为摩尔比。与现有技术相比,利用本发明的电阻材料制作的压敏电阻的介电常数能够控制在30-120之内。 | ||
搜索关键词: | 一种 介电常数 压敏电阻 材料 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种低介电常数压敏电阻材料,其特征在于包括:90~97%的ZnO;0.1~3%的Bi2O3;0.1~3%的Sb2O3;0.1~2%的Cr2O3;0.1~1.5%的MnO2或MnCO3;0.1~1.5%的Co2O3;0.1~1%的Ni2O3或NiO;0.1~0.8%的H3BO3或B2O3; 0.001~0.8%的AgNO3;0.001‑0.3%的Al2(NO3)3.9H2O;前述的百分比均为摩尔比。
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