[发明专利]单总线芯片的测试方法

摘要

本发明提供一种单总线芯片的测试方法，包括将测试主机的第一引脚连接至芯片的第一管脚，将测试主机的第二引脚连接至芯片的第二管脚，第一管脚与第二管脚中的一个为数据管脚，另一个为接地管脚；将第一引脚设置为数据输出引脚并输出接地信号，将第二引脚设置为数据输入引脚；待芯片上电后，测试主机读取第二引脚输入的信号，并判断取的信号是否为低电平信号，如是，则将第一引脚设置为数据输入引脚，将第二引脚设置为数据输出引脚并输出接地信号，并通过第一引脚与芯片进行通信；如否，通过第二引脚与芯片进行通信。本发明提供的测试方法能够让测试主机自动识别芯片的管脚，并根据管脚的情况设定引脚的工作模式，提高测试效率。

主权项

单总线芯片的测试方法，其特征在于：包括将测试主机的第一引脚连接至被测试芯片的第一管脚，所述第一引脚还通过第一电阻连接至直流电源，将所述测试主机的第二引脚连接至所述芯片的第二管脚，所述第二引脚还通过第二电阻连接至所述直流电源，所述第一管脚与所述第二管脚中的一个为数据管脚，所述第一管脚与所述第二管脚中的另一个为接地管脚，且所述一管脚与所述第二管脚均不设置标识；将所述第一引脚设置为数据输出引脚并输出接地信号，将所述第二引脚设置为数据输入引脚；待所述芯片上电后，所述测试主机读取所述第二引脚输入的信号，并判断所读取的信号是否为低电平信号，如是，则将所述第一引脚设置为数据输入引脚，将所述第二引脚设置为数据输出引脚并输出接地信号，并通过所述第一引脚接收所述芯片发送的数据；如否，通过所述第二引脚接收所述芯片发送的数据。