[发明专利]单总线芯片的测试方法有效
| 申请号： | 201210005107.6 | 申请日： | 2012-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN103197225B | 公开（公告）日： | 2017-03-29 |
| 发明（设计）人： | 张晓徽 | 申请（专利权）人： | 珠海天威技术开发有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 珠海智专专利商标代理有限公司44262 | 代理人： | 林永协 |
| 地址： | 519060 广东省珠海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 总线 芯片 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.单总线芯片的测试方法，其特征在于：包括
将测试主机的第一引脚连接至被测试芯片的第一管脚，所述第一引脚还通过第一电阻连接至直流电源，将所述测试主机的第二引脚连接至所述芯片的第二管脚，所述第二引脚还通过第二电阻连接至所述直流电源，所述第一管脚与所述第二管脚中的一个为数据管脚，所述第一管脚与所述第二管脚中的另一个为接地管脚；
将所述第一引脚设置为数据输出引脚并输出接地信号，将所述第二引脚设置为数据输入引脚；
待所述芯片上电后，所述测试主机读取所述第二引脚输入的信号，并判断所读取的信号是否为低电平信号，如是，则将所述第一引脚设置为数据输入引脚，将所述第二引脚设置为数据输出引脚并输出接地信号，并通过所述第一引脚与所述芯片进行通信；如否，通过所述第二引脚与所述芯片进行通信。
2.根据权利要求1所述的单总线芯片的测试方法，其特征在于：
所述第一引脚与所述第二引脚均为双工输入输出引脚。
3.根据权利要求1或2所述的单总线芯片的测试方法，其特征在于：
将所述第一引脚设置为数据输出引脚并输出接地信号后，所述测试主机延时预定时间后向所述芯片上电。
4.根据权利要求3所述的单总线芯片的测试方法，其特征在于：
所述预定时间为10毫秒。
5.根据权利要求1或2所述的单总线芯片的测试方法，其特征在于：
所述测试主机为单片机。
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