[发明专利]成形体、其制备方法、电子装置用部件及电子装置有效

专利信息
申请号: 201180050643.1 申请日: 2011-07-27
公开(公告)号: CN103249767A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 岩屋涉;近藤健 申请(专利权)人: 琳得科株式会社
主分类号: C08J7/00 分类号: C08J7/00;B32B27/00;B32B27/30;C23C14/48
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 林毅斌;李进
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供成形体、所述成形体的制备方法、含有所述成形体的电子装置用部件、具备所述部件的电子装置,所述成形体为具有阻气层的成形体,其中,所述阻气层具有由至少含有碳原子、氧原子和硅原子的材料构成的表层部,在所述表层部中,相对于碳原子、氧原子、氮原子和硅原子的总存在量,碳原子的存在比例为超过0%且70%以下,氧原子的存在比例为10%以上且70%以下,氮原子的存在比例为0%以上且35%以下,硅原子的存在比例为20%以上且55%以下。本发明的成形体具有优异的阻气性、透明性和耐弯折性。根据本发明的成形体的制备方法,可通过一道工序安全、简便地制备上述成形体。本发明的电子装置用部件可适用于显示器、太阳能电池等电子装置。
搜索关键词: 成形 制备 方法 电子 装置 部件
【主权项】:
成形体,所述成形体为具有阻气层的成形体,其特征在于,所述阻气层具有由至少含有碳原子、氧原子和硅原子的材料构成的表层部,在所述表层部中,相对于碳原子、氧原子、氮原子和硅原子的总存在量,碳原子的存在比例为超过0%且70%以下,氧原子的存在比例为10%以上且70%以下,氮原子的存在比例为0%以上且35%以下,硅原子的存在比例为20%以上且55%以下。
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