[发明专利]光掩模单元及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201180017361.1 申请日: 2011-03-10
公开(公告)号: CN102822744A 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 秋山昌次;久保田芳宏 申请(专利权)人: 信越化学工业株式会社
主分类号: G03F1/62 分类号: G03F1/62;G03F1/64;H01L21/027
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人: 王勇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种适宜于使用EUV曝光技术,在感光膜上形成32nm或其以下的微小图案的光刻用光掩模,以提供能确实地防止光掩模的平坦度发生恶化的光掩模单元为目的。本发明的光掩模单元1为:防尘薄膜6、在其一个表面粘贴有防尘薄膜6的侧部近旁区域的防尘薄膜组件框架7、光掩模2、其一个表面固定有光掩模2及防尘薄膜组件框架7的台子3,防尘薄膜组件框架7在比固定有光掩模2的台子3的范围还要靠外的侧被固定于台子3上。
搜索关键词: 光掩模 单元 及其 制造 方法
【主权项】:
一种光掩模单元,包括:防尘薄膜;防尘薄膜组件框架,其形成框架状,其一个端面上粘贴所述防尘薄膜的侧部近旁区域;光掩模;台子,在其一个表面上固定有所述光掩模及所述防尘薄膜组件框架,其特征在于所述防尘薄膜组件框架,在比固定所述光掩模的台子的范围还要靠外侧被固定于所述台子上。
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