[实用新型]一种半导体激光器偏振测试系统有效
| 申请号： | 201120356779.2 | 申请日： | 2011-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN202255839U | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 刘兴胜;吴迪;张彦鑫 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 徐平 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种半导体激光器偏振测试系统，以精确测试半导体激光器的偏振度和判别偏振模式。本实用新型的偏振测试系统是在半导体激光器出射端设置有按照功率进行分光的分光器，该分光器的透射方向上依次设置有偏振滤光状态可调的偏振器件、会聚透镜/透镜组、第一功率探测装置；该分光器的反射方向上设置有按照偏振模式分光的分光棱镜，该分光棱镜分出的透射、反射光路上分别设置有第二功率探测装置和第三功率探测装置。本实用新型操作简单，可适用于大批量半导体激光器产品的测试，针对不同型号的激光器在测量偏振度时调节简便，可快速判定半导体激光器的偏振模式。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 偏振 测试 系统 | ||
【主权项】：
半导体激光器偏振测试系统，其特征在于：在半导体激光器出射端设置有按照功率进行分光的分光器，该分光器的透射方向上依次设置有偏振状态可调的偏振器件、会聚透镜/透镜组、第一功率探测装置；该分光器的反射方向上设置有偏振分光棱镜，该分光棱镜分出的透射、反射光路上分别设置有第二功率探测装置和第三功率探测装置。
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