[实用新型]一种阻抗可控的测试插座有效
| 申请号： | 201120226818.7 | 申请日： | 2011-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN202126447U | 公开（公告）日： | 2012-01-25 |
| 发明（设计）人： | 贺涛;田治峰;高凯;王强 | 申请（专利权）人： | 上海韬盛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 龚敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种插座，尤其涉及一种用于半导体芯片测试的探针型测试插座。一种阻抗可控的测试插座，包括芯片保持座，绝缘与接地复合铜块和探针保持板。绝缘与接地复合铜块上依据实际芯片功能要求加工有探针孔。经实验，弹簧探针在腔体内压缩50万次，绝缘材料未与接地铜块脱离，绝缘材料上的孔也未见明显磨损，信号探针与接地铜块绝缘良好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阻抗 可控 测试 插座 | ||
【主权项】：
一种阻抗可控的测试插座，其特征在于，包括芯片保持座（1），绝缘与接地复合铜块（2）和探针保持板（3）；所述绝缘与接地复合铜块（2）设有探针孔。
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