[实用新型]一种半导体测试座压盖有效
| 申请号： | 201120226816.8 | 申请日： | 2011-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN202141744U | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | 史赛;田治峰;高凯;王强 | 申请（专利权）人： | 上海韬盛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 龚敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提出一种半导体测试座压盖，包括：旋转手柄1，进给螺纹环2，调节盖主体3，双散热片部件4，开合锁扣5，连接框架6；其中双散热部件4结构由浮动散热片调节弹簧7，浮动散热片8，基板9，主散热片10，测试压板11，主散热片弹簧12和浮动散热片止动销钉13组成。主散热阀与浮动散热片可适应不同高度差的主辅散热区域的高度差，实现弹性调节，解决原散热片不可灵活调节的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 压盖 | ||
【主权项】：
一种半导体测试座压盖，包括：旋转手柄（1），进给螺纹环（2），调节盖主体（3），双散热片部件（4），开合锁扣（5），连接框架（6）；其特征在于，所述双散热部件（4）的结构由浮动散热片调节弹簧（7），浮动散热片（8），基板（9），主散热片（10），测试压板（11），主散热片弹簧（12）和浮动散热片止动销钉（13）组成。
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