[实用新型]一种基于开尔文原理的半导体芯片测试插座有效
| 申请号： | 201120226815.3 | 申请日： | 2011-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN202145214U | 公开（公告）日： | 2012-02-15 |
| 发明（设计）人： | 孙鸿斐;田治峰;高凯;王强 | 申请（专利权）人： | 上海韬盛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 龚敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种基于开尔文连接电路设计的半导体芯片测试插座，包括芯片测试腔，插座内部构造由插座主体，内圈测试探针，内圈探针固定块，外圈测试探针，外圈探针固定环，底部盖板组成。本实用新型探针型测试插座的设计是基于开尔文电路原理，这使得此测试插座在芯片测量时可以取得精度很高的芯片测试数据，更有利于对封装完成的芯片品质做出评定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 开尔文 原理 半导体 芯片 测试 插座 | ||
【主权项】：
一种基于开尔文连接电路设计的半导体芯片测试插座，包括芯片测试腔（5），其特征在于，该插座内部构造由插座主体（4），内圈测试探针（7），内圈探针固定块（2），外圈测试探针（6），外圈探针固定环（3），底部盖板（1）组成。
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